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数据分析及辅助工具
数据分析及辅助工具
专业IC测试网
— 《看我哒》
集成电路技术分享博客
2015-04-18
主要内容 2 /35
1 数据分析常见内容
2 测试BIN信息
3 CP Mapping 及 复测数据
4 多工位测试项分析
5 Data Correlation
6 GRR 测试
7 Production Lots
前言 3 /35
为什么要分析测试数据？
大家常用的数据分析工具有哪些？
你愿意花多少时间在分析测试数据上？效果如何？
如何合理利用工具，进行快速有效的数据分析？
数据基本信息 4 /35
常见分析内容 5 /35
常见分析内容 6 /35
STDEV，标准偏差，反映数值相对于平均值(mean) 的离散程度
CPK，制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化。
CPK = MIN(CPU, CPL)
CPK 评级标准
A++ 级 CPK ≥ 2.0 特优 可以考虑成本的降低
A+ 级 2.0 ＞ CPK ≥ 1.67 优 应当保持
A 级 1.67 ＞ CPK ≥ 1.33 良 能力良好状态稳定，应尽力提升为A+
B 级 1.33 ＞ CPK ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有不良的危险
C 级 1.0 ＞ CPK ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升能力
D 级 0.67 ＞ CPK 不可接受 能力太差，应考虑重新整改设计制程
测试BIN信息 7 /35
CP 测试数据 8 /35
Test Name IN_OS POK_OS VCC_OS EN_OS FB_OS OUT_OS
Test Number 1.1 1.2 1.3 1.4 1.5 1.6
Lower Limit -0.8 -0.8 -0.8 -0.8 -0.8 -0.8
Upper Limit -0.2 -0.2 -0.2 -0.2 -0.2 -0.2
Units V V V V V
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