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基于扫描探针的金属/有机涂层电化学检测技术的进展

材封 护 第49卷·第5期·2016年sa 0 0 基于扫描探针的金属/有机涂层 电化学检测技术的进展 廖柯熹 。景 红 。苏志晔 (1.西南石油大学石油与天然气工程学院,四川 成都 610500;2.烟建集团有限公司,山东 烟台 264003) [摘 要] 传统电化学检测技术难 以深入研究腐蚀的萌生、发展、转移、抑制等过程 ,而基于扫描探针的电化学检 测技术弥补 了这一不足。从工作原理和应用现状,简要概述 了4种适用于金属/有机涂层体系腐蚀研究的基于扫 描探针、具有高空间分辨率的电化学检测技术,分别为扫描电化学显微镜(SECM)、扫描振动电极技术(SVET)、局 部电化学阻抗谱 (LEIS)、扫描开尔文探针技术(SKP)。4种 电化学检测技术均利用金属/有机涂层体系电化学的 不均一性,通过检测电流、电压或者阻抗等信号,从微观上反映该体系腐蚀 的全过程 。基于扫描探针的电化学检测 技术的发展及应用,能够从微观上解释金属/有机涂层体 系腐蚀发生、发展过程及机理。 [关键词] 电化学检测技术;金属/有机涂层体系;扫描探针;SECM;SVET;LEIS;SKP [中图分类号]0657.1 [文献标识码]A [文章编号]1001—1560(2016)05—0037—04 O 前 言 学腐蚀体系。 基于扫描探针、具有空间分辨度的电化学检测新 防腐蚀涂层在运输及涂装过程中受到机械碰撞, 技术,能够深人揭示金属/有机涂层体系腐蚀与防护机 工作过程中受到腐蚀环境及各种应力的影响,加之内 理,进一步推进腐蚀科学进入空间分辨和分子水平的 涂层受到流动介质的冲刷 ,难免会产生气泡、针孔、剥 研究 j。因此,近年来金属/有机涂层体系研究中广泛 离或破损等缺陷。涂层缺陷处往往具有 良好的腐蚀环 应用了基于扫描探针的电化学检测技术,从微观角度 境,形成小的阳极区和大的阴极区并不断扩散转移,从 解释腐蚀的萌生、发生、转移、抑制等过程,以弥补传统 而致使涂层发生剥离、金属腐蚀加剧。因此,研究金 电化学方法的不足。 属/有机涂层体系腐蚀发生的过程及防腐蚀涂层的防 以下简要介绍了扫描 电化学显微镜 (SECM)、扫描 护与失效机理,对防腐蚀工程耐久性有着重要意义。 振动电极技术(SVET)、局部 电化学阻抗谱 (LEIS)、扫 目前,针对金属/有机涂层体系研究的传统 电化学 描开尔文探针技术 (SKP)4种基于扫描探针的电化学 方法主要包括直流电阻法、极化曲线法、电化学交流阻 检测技术的工作原理,并概述了近年来 国内外在金属/ 抗谱(EIS)、电化学噪声 (EN)等技术 ,通过检测电信 有机涂层体系研究中各种检测技术的应用状况 。 号 (电位、电流或电荷)等手段获得有关涂层防护效果 的间接和统计性试验数据 I【I2。这些数据只能宏观地 1 基于扫描探针的电化学检测技术 反映腐蚀的发生,难 以深入研究许多复杂的局部电化 1.1 扫描电化

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