熔融制样-波长色散X射线荧光光谱法测定高硫高磷铜磁铁矿中主次成分.pdfVIP

熔融制样-波长色散X射线荧光光谱法测定高硫高磷铜磁铁矿中主次成分.pdf

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熔融制样-波长色散X射线荧光光谱法测定高硫高磷铜磁铁矿中主次成分.pdf

冶金分析,2015,35(12):10—16 MetallurgicalAnalysis,2015,35(12):10—16 熔融制样一波长色散X射线荧光光谱法 测定高硫高磷铜磁铁矿中主次成分 褚宁,蒋晓光,张彦甫 (鲅鱼圈出入境检验检疫局,辽宁营口115007) 摘要:铜磁铁矿属富铜、高硫、高磷的磁铁矿矿物,以测量灼烧减量后的灼烧基试料质量作为 试料量,建立了熔融制样一波长色散x射线荧光光谱法测定铜磁铁矿中铜、铁、硅、铝、钙、镁、 钛、锰和磷含量的分析方法。以四硼酸锂一偏硼酸锂混合熔剂(m:m一12:22)为熔剂,控制试 料与熔剂稀释比为l:10,以220mg/mL硝酸锂溶液为氧化剂,50mg/L碘化铵溶液为脱模 050℃熔融20 剂,于1 min,制备的试料片透彻、玻璃化程度高。以磁铁矿标准物质为基体,并 添加铜和磷标准溶液作为标准试料,解决了铜磁铁矿没有标准物质的问题。各待测组分校准 0~0.999 曲线的相关系数在0.989 9之间;方法检出限为0.0017%~0.30%;各待测组分的 相对标准偏差(RSD,以一11)在0.15%~4.7%之间。对与铜磁铁矿基体组分相近的含铜铁矿 石标准物质进行测定,测定值与认定值基本一致;采用不同实验方法对不同含量水平的铜磁铁 矿样品进行测定,测定值与滴定法、重量法、电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP—AES)、原 子吸收光谱法(AAS)和分光光度法的测量结果基本相符。8个实验室对8个不同含量水平的 铜磁铁矿样品进行了协同试验,结果表明方法的重复性和再现性良好。 关键词:波长色散X射线荧光光谱法;熔融制样;铜磁铁矿;高硫;高磷;主次成分 文献标志码:A 文章编号:1000—7571(2015)12-0010—07 随着生产力的发展,人们对矿产资源的需求越 围[3‘12|。本文在缺少铜磁铁矿标准物质的情况下, 来越多,金属矿产已成为各国的战略资源。然而,在 以磁铁矿标准物质为基体,并添加铜和磷标准溶液 炼铁生产中所用铁矿石产地多、矿源杂、物料组成及 作为标准试料制作合适的校准曲线,建立了熔融制 其含量范围变化较大,检测时需要根据矿源分类,建 样一XRF同时测定铜磁铁矿中铜、全铁(TFe)、硅、 立合适的分析方法。有一种高硫、高磷和富铜的磁 铝、钙、镁、钛、锰和磷等主次成分的方法。 铁矿(又称铜磁铁矿),已成为铜和铁冶炼的主要原 1 实验部分 料[1。2]。在铁矿石化学分析方法中,采用滴定法、重 量法、分光光度法、原子吸收光谱法(AAS),电感耦1.1仪器及测量条件 合等离子体原子发射光谱法(ICP—AES)等进行分析S4型波长色散X射线荧光光谱仪(德国布鲁克 测定时,样品处理过程相对繁琐、耗时,有的方法一 公司):端窗Rh陶瓷光管,真空光路,仪器测量条件 次只能测定一个元素,分析周期长,由此带来诸多不 见表1;DY501型电热熔融自动熔铸制样设备(上海 确定因素。相比之下,方便、快捷的X射线荧光光 谱法(XRF)在铁矿石全铁和杂质组分检测中的应用创公司);AB204一S型电子分析天平(瑞士梅特勒公 日益得到普及。但是,铜磁铁矿中铜(约为0.1%~ 司);铂一金坩埚(95%Pt一5%Au):30 mL;铂一金模具 2%)、硫(约为0.5%~4%)和磷(约为0.5%~5%)(95%Pt5%Au):上端内径为42 mm,下端内径为 的质量分数已超出现有XRF对铁矿石的测定范40

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