定量化Delaire头影测量研究法探究进展及展望.docVIP

定量化Delaire头影测量研究法探究进展及展望定位头影测量方法是评价颅颌面骨骼结构特征的重要手段，广泛运用于颅面生长发育预测及颅颌面骨骼特征等研究[1]。传统方法诸如Downs分析法、Steiner分析法、Tweed 分析法、Wylie分析法、Wits分析法、Ricketts分析法等对颅颌面骨骼结构的评价主要基于角度、线距、比例等，因受面高、颌骨旋转、参照平面变异等影响以及准确度、适用条件等限制，不能充分满足临床需要，因此，个体化定位头影测量技术应运而生，为正确判断个体颅颌面骨骼结构的矢状关系和谐调度提供了新途径[2]。定量化Delaire头影测量分析方法基于颅颌面整体平衡理论，是个体化定位头影测量技术的代表之一，但国内尚少有报道，本文对该法的起源、原理、应用及前景综述如下。 1Delaire头影测量分析法的起源 20世纪60年代，法国正畸及颌面外科医生Delaire J基于对人类颅颌面生长发育机制以及整体结构关系的多年研究，提出了颌骨的发育与其周围的固有肌肉关系密切，并且与牙、舌、关节的活动相互影响，因而形成特有的形态和功能，并由此进一步提出了颅颌面整体平衡理论[3]（图1）。该理论认为：作用于颅颌面的施动因素可分为颈后带、面深带、颌面带三部分(图1)，三者的正常功能活动促使颅颌面骨骼的平衡发育。若发育过程中内部结构发生平衡失调，将首先导致颌骨畸形及牙合关系异常。基于上述理论，Delaire J[3]在多年的病理生理研究成果、临床实践经验和传统头影测量分析法基础上，设定了人类颅颌面正常状态下骨骼的结构平衡点和有关线条，经Mercier J[4]于20世纪90年代改良后，逐渐发展为当代Delaire头影测量分析法。 2Delaire头影测量分析法的结构及特点 2.1 Delaire分析法依据颅颌面整体骨骼结构平衡理论，设定了一系列特有的标记点和面线(辅助线)[4]（图2），有别于绝大多数头影测量分析法，具体包括： 2.1.1 生理解剖点：①N：鼻根点；②M：鼻额突，上颌骨额突与鼻颌缝的连接点；③Cla：蝶鞍前点；④Clp：蝶鞍后点；⑤ENA(ANS)：前鼻棘点；⑥ENP(PNS)：后鼻棘点；⑦NP：鼻腭点；⑧Me：颏下点；⑨Pts：上翼点；⑩）Pti：下翼点；⑾Go：下颌角点；⑿U1：上中切牙切点；⒀U1R：上中切牙根尖点；⒁L1：下中切牙切点；⒂L1R:下中切牙根尖点。 2.1.2 计算点:①Clm：蝶鞍中点；②Fm：M点与上颌骨额突后缘和C1线交点间的中点；③Ct：颞下颌关节点；④Cp：C2线与下颌骨髁突后缘交点；⑤Od：Clp到第2颈椎指状突后缘的切线的切点；⑥Om：Met过Got与F4线的交点；⑦Br：F2线于颅骨外皮质的交点（前囟点）；⑧Oi：从Op向C2线做垂线的垂点；⑨Sc：C3线与颅骨外皮质的交点（颅顶点）；⑩Got：F6线与F3线的交点；⑾Op：C1线延长线与颅骨外皮质的交点；⑿ENAt：理论前鼻棘点；⒀Met：理论颏下点；⒁X：F5线上的计算点，X到ENAt与ENAt到N’的距离比为55：45；⒂N’：N点水平前方1～3mm，根据年龄，12岁以下儿童为1mm，女性发育期后为2mm，男性发育期后3mm。 2.1.3 面线（辅助线）：C1线：颅底上线；C2线：颅面基底线；C3线：颅高线；C4线：基底斜线；F1线：颅面平衡前线；F2线：颅面平衡中线；F3线：颅面平衡后线；F4线：颅腭线；F5线：理论面高；F6线：测量辅助线，过ENAt与C2线平行；F7线：颅下颌平面线；F8线：理想咬合平面。 2.2Delaire分析法以颅颌面整体骨骼结构平衡理论为基础，其分析颅面部畸形的思路包括了具体数据分析和直观图形分析两部分[4]，具体数据分析是指Delaire分析法的特定测量项目，主要由由角度、比值和线距三部分组成： 2.2.1 角度：∠C1-C2：前颅底角，为C1，C2线的交角；∠C1-C4：蝶鞍角，为C1，C4线的交角；∠U1 to F4：上中切牙与理论上腭平面的交角；∠L1 to F7：下中切牙与理论下颌平面的交角；interincisal angle：上下中切牙交角。 2.2.2 比值：C3/C2：颅高比(颅骨形态)；C3/ (Cp-Oi)：颅高/颅颈区；C3/(Cp-M)：颅高/颅面区；（M-CP）/C2：颅面区比(颅骨，颌面部之间的关系) ；(Cp-Oi)/C2：颅颈区比。 2.2.3 线距：Me-Met（s）：颏下点与理论颏下点的矢状向关系；Me-Met（v）：颏下点与理论颏下点的垂直向关系；Np-F1：NP与F1线的关系(上颌骨前后关系，指导手术)；Me-F1：Me与F1线的关系（下颌骨的前后关系）。 2.3 传统头影测量分析法在