红外探测器杜瓦非概率可靠性设计方法 non-probabilistic reliability design for ir detector dewar.pdfVIP

第43卷第7期 激光与红外 Voi．43．No．7 2013年7月 LASER＆ INFRARED July，2013 文章编号：100l-5078(2013)07旬76605 -红外技术及应用· 红外探测器杜瓦非概率可靠性设计方法 王春生，东海杰，孟令超 (华北光电技术研究所，北京l∞0i5) 摘 要：杜瓦是大面阵红外焦平面探测器组件的重要组成部分，为其提供光学、机械、热学 和电学接口，因此对该杜瓦结构的可靠性有较高要求。由于此类产品样本数极少，传统的 基于概率模型的可靠性设计方法在理论和应用上均存在较大的问题。有鉴于此，提出了基 于区间分析的结构非概率可靠性模型，并将所建模型用于大面阵红外焦平面探测器杜瓦结构 的可靠性优化设计。研究结果表明，非概率可靠性设计方法只要求已知设