集成电路开短路测试.docVIP

摘要 本次设计针对测试集成电路的开短路。作品设计以AT89S52,两个CD4051，一个待测芯片MC34063为主，用AT89S52来控制CD4051输入引脚从而使得输出其中一个引脚，此引脚用来连接被侧的其中一个引脚。34063芯片测试仪基本功能是集成电路的开短路测试、基准电压测试、集成电路等级评定；自动分装时能够与机械手系统通信；用数码显示基准电压和集成电路等级评定结果。在评定集成电路等级时，第一种测试仪只需分辨合格与不合格。 芯片的测试分两次。在芯片制造完成后必须对圆片上的芯片（小片）进行测试。测试后进行切割。测试合格的芯片才能进行封装。封装完成后的芯片还要进行第二次测试。当已经封装的芯片被测出故障，厂商应当拆掉封装进行测试，找出故障原因。这时候的故障可能是由于焊接等过程中的静电等原因造成的。 关键词：一片AT89S52；两片CD4051；一片MC34063 目 录 一、 选题意义 2 二、 原理分析 2 三、 总体设计 3 四、 详细设计 3 1、 硬件设计 3 （1）恒电流电路设计 （2） 判决电路设计 （3）控制电路设计 （4）选通电路设计 2、 软件设计 5 五、 系统实现 8 1、硬件原理图 六、测试 9 总结.......................................................................................................................9 八、参考文献..................................................................................................................................10 集成电路开短路测试 一．选题的意义 对集成电路厂家来说，开短路测试(open short test)是集成电路生产商必须具备的一项关键技术，关系到企业的生存；对消费者使用者来说，开短路测试关系到一个项目的生产效率，在很大程度上决定着工作的质量。 二．原理分析 集成电路开短路测试分为开路测试(open short to VDD)和短路测试(open short to VSS)。 一般来说，芯片的每个引脚都有泄放或保护电路是两个首尾相连的二极管，一端接VDD，一端接VSS，信号是从两个二极管的接点进来测试时测试时,先把芯片的VDD引脚接0伏(或接地),再给每个芯片引脚供给一个100uA到500uA从测试机到芯片的电流,电流会经上端二极管流向VDD（0伏），然后测引脚的电压,正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,我们一般设上限为1.5伏，下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VDD测试. open_short_to_VSS测试的原理基本相同.同样把先VDD接0伏，然后再给一个芯片到测试的电流,电流由VSS经下端二级管流向测试机.然后测引脚的电压,同样正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,只是电压方向相反,上限还是为1.5伏，下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VSS测试. 三．总体设计 四．详细设计 (一)硬件设计 恒电流电路设计 5V电压源通过电路产生2.5V电压，供电流源使用。电流源是通过Q1和Q2两个PNP管基极共联以及三个电阻按右上图所示连接而成，该电流源主要用于提供100mA到500mA的电流用于测试输入，其中C4电容主要是在瞬间断电起到缓冲作用 判决电路设计 比较电路上端接2.5V，通过电阻的分压作用在芯片LM358AM的2号引脚产生1.5V的电压，在5号引脚产生0.2V的电压；将3和6号引脚电位与他们比较，以此来选通二极管D1或D2，当3和6号引脚电位高于1.5V或低于0.2V时二极管其中一个导通，介于两电位之间时两个二极管全部截止，其中3和6号引脚电位等于所U3选通引脚电位。 控制电路设计 控制电路主要通过对AT89S52编程控制U2和U3的6，9，10，11号引脚实现；右上图是AT89S52的复位电路。 选通电路设计 选通电路主要用于选择被测芯片的引脚，芯片U2选通的引脚通过其3号引脚将被测引脚点置0，芯片U3选通的引脚置于与其3号引脚相同的电平，之后通过发光二极管来显示两引脚是开路或短路，还是正常。 (二)软件设计 #includereg52.h #includeintri