115～180 nm远紫外临边成像光谱仪信噪比分析与验证.pdfVIP

第30卷，第11期 2ol0年l1月 and November，20lo SpectroscopySpectralAnalysis 115～180 nm远紫外临边成像光谱仪信噪比分析与验证 于 磊1’2，林冠宇1，曲艺1，王淑荣¨ 1．中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室，吉林长春130033 2．中国科学院研究生院，北京lo0049 摘要 115～180啪远紫外临边成像光谱仪原理样机是针对电离层探测而开发的预研牵间光谱仪器。由 于远紫外波段的特殊性，仪器所能接收到的信号非常微弱，因此灵敏度和信噪比就成为r衡最性能的重要 指标。该文根据信号统计检测理论，在阈值理论的基础上，提出了计算这种仪器的灵敏度和信噪比的方法。 首先分析了接收信号和系统噪声的概率分布，然后引入探测概率和虚警概率因子，从而推导出仪器的灵敏 度与信噪比的计算表达式。根据灵敏度计算和电离层中探测粒子辐射波长的亮度范围，可知仪器的灵敏度 能够满足探测需求。之后对仪器的信噪比进行了理论计算，并建立r相关的实验系统进行验证，结果表明， 由该方法计算出的结果和实验结果之问的误差在允许范围内，因此是合理的。 关键词远紫外；灵敏度；信噪比；阈值理论；响应度 中图分类号：TH753文献标识码：A DoI：10．3964／j．issm1000-0593(2010)11—3156一05 开展奠定了基础。 引 言 1光谱仪信号分析与公式推导 电离层探测研究的主要波段为115～180nrn的远紫外区 域。由于该波段自身光谱辐射弱，且被大气强烈吸收，在地 光源的光功率由探测目标单位时间内发射的光子数或光 面上很难进行有效的观测；而电离层又极易受到扰动，变化 子发射速率可表示为 快，动态范围大，因此如何进行有效的窄间探测就成为r研 P=邯E；=邯b (1) 究的焦点。目前，国际上应用于探测的先进空间研究仪器， 式中：咋是光子的发射速率，^是普朗克常量(6．62×10叫 其结构主要分为光栅衍射型，如AIM，AIRS，GUvI和 m2·kg·s-1)，v是光的频率。 ssULI等，和滤光片透射型，如IMAGER等[1-4]。国内现在 Rhyleigh(R)是一个测量光源空间延伸绝对角平面亮度 暂时没有同类的仪器应用。 的单位，它由每单位表面积的光子发射速率来描述光谱辐射 临边探测是一种新兴的空间观测方式，具有空间、时间 亮度，是国际上用于微弱光探测的常用单位。R与光强辐亮 覆盖率大，垂直分辨率高的优点[5]，非常适合于电离层探 度L(w·(cm2·sr)-1)之间的关系为 测。 R=27【1L×1013 (2) 为实现对电离层探测的预研，试制了远紫外临边成像光 式中：|：I为光波长，单位为肛m。且 谱仪原理样机，光学系统由一片离轴抛物镜和cT系统组 P=LAn (3) 成，镜片数鼙少，光损耗低，适用于微弱信号探测；使用 式中：A为有效入射面积，n为立体角。 wSZ阳极探测器作为接收器件，通过对光子脉冲的计数得 式(1)一(3)联立町得微弱光辐射源的光子发射速率 到光谱信息。整机的响应度和信噪比是衡鸶系统性能的蕈要 指标，本文结合信号统计检测理论对它们进行r理论分析， 咋=P／Ep=怒×lo叫3 (4) 并由样机系统进行了实验验证。结果表明，理论