在线测试原理与应用.pptVIP

目录 什么是ICT ICT和边界扫描测试基本原理 可测性设计 其它工艺测试手段和测试策略 什么是ICT？ ICT：In-Circuit Test 通过对在线元器件（成品板上的元器件）的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。 可测缺陷 工艺类：短路（接近100%）、元件错装、漏装、装反，管脚开路、虚焊，PCB断线等故障。 元件类：可检查出元件值的超差、失效或损坏，Memory类的程序错误，逻辑错误等 ICT的特点 故障定位准：元件级,管脚级 测试速度快，生产效率高： 几秒-几分 品质保证好：每个元件测试 测试手段标准化：测试库 开发难度小，成本低：程序4-10天，夹具5-10天 维修成本低：1:6 认识ICT设备 目录 什么是ICT ICT和边界扫描测试基本原理 可测性设计 其它工艺测试手段和测试策略 ICT测试设备 我司针床式在线测试仪采用美国Teradyne公司的SPECTRUM 8800系列，TS LH(LX)和Genrad系列；Agilent公司的HP3070系列 相关的设备之间夹具不能通用，每种单板对应一个夹具和程序 随着现代制造工艺的发展，在线测试理论及方法也有很大的发展。了解ICT的原理与应用对开发设计、生产制造都有一定意义 ICT的特征 ICT对模拟器件测试基本原理 隔离(Guarding) 测试IC的非向量手段 P-N Junctions In Integrated Circuits 一般保护二极管的结构 DeltaScan DeltaScan利用器件内部的保护二极管测试出缺陷的管脚 DeltaScan应用激励电压，测量电流变化 DeltaScan的特征 DeltaScan 没有额外的夹具硬件要求 应用简单 没有器件封装的限制 可预知的覆盖率 测试速度快 准确的诊断 大引脚数器件更有效 测试稳定性较差 FrameScan Components FrameScan的框图 FrameScan利用电容藕合探测管脚的好坏。每个器件上面有一个电容性探头， 在某个管脚激励信号，电容性FrameScan的框图探头拾取信号。 FrameScan的特征 FrameScan/Testjet和其增强型FrameScanII/Vtep 对IC的封装有要求，夹具增加成本。 测试效果与向量测试媲美 可测连接器 FrameScan/Testjet的增强型，信噪比提高 可BGA类型的封装 可预知的覆盖率 测试速度快 准确的诊断 数字器件的向量测试 边界扫描的引入 边界扫描器件的结构 边界扫描测试之BICT 边界扫描测试之VIT 边界测试之VCCT VCCT(Virtual Component and Cluster Test，虚拟器件和器件簇测试)：通过边界扫描器件的扫描单元测试非边界扫描器件或器件的集合 边界扫描测试能够发现的缺陷 ICT在线加载原理 ICT在线加载可降低成本 ICT装备开发所需成本 启动ICT条件和ICT程序 目录 什么是ICT ICT和边界扫描测试基本原理 可测性设计 其它工艺测试手段和测试策略 反驱和ICT对数字器件的隔离 原理图的设计原则 时钟可以被隔离，ICT可以切断振荡源。 器件的清零、置位、复位、片选、使能、输出、禁止等端（/RESET、/OE、/CE、/EN、/ICT、TEST等）的处理：不能直接接电源或地，也不能悬空。 器件选用：尽量选择JTAG和或使能端的器件 原理图标识：将JTAG链及DFT特殊设计要体现。 单点测试点的标识。 器件ID标识的规范化：如电阻用R，二极管用D等。 可被ICT加载设计：FLASH器件周围器件都可以被ICT隔离，不能省略测试点。 其它特殊设计：需研究DATASHEET。 边界扫描菊花链的设计 边界扫描上下拉电阻和插座 PCB加ICT测试点三个基本原则 每一个网络都有一个测试点 测试点焊盘为40mil与32mil 测试点间距≥70mil 可省略的ICT测试点 可以省略的测试点 向量测试的数字器件（如244和245），与匹配电阻相连的一端。 可以实现VIT，边界扫描器件互联的网络。 可以实现VCCT，边界扫描器件与数字器件之间的部分互联网络。 以下情况，网络的测试点不能省略 上下拉电阻 网络上还有其它非边界扫描器件 不在一条JTAG菊花链上的边界扫描器件，它们之间的互联网络 ICT参与产品的研发过程 目录 什么是ICT ICT和边界扫描测试基本原理 可测性设计 其它工艺测试手段和测试策略 AOI(自动光学检测) AXI(自动X光检测) 各种测试手段是互补的 测试的目的和最优化的测试策略 通过选择组合测试策略，达100％的故障覆盖率。 在制造过程中尽早发现缺陷。 准确的检测报告以促进制造过程的改进。