[管理学]第七章质量检测与测量系统分析.pptVIP

* 一位评价人对一个样件测量10次。10次测量值如下所示。由全尺寸检验设备确定的基准值为0.80mm，该零件的过程变差为0.70mm。 偏移及分析原理 x1=0.75, x2=0.75, x3=0.80, x4=0.80, x5=0.65, x6=0.80, x7=0.75, x8=0.75, x9=0.75, x10=0.70 观测平均值为测量结果总和除以10，其计算式和计算结果为： ＝ 偏移=Xb=观测平均值-基准值=0.75-0.80=-0.05 偏移占过程变差的百分比λ?b计算如下 λ?b=100（偏移的绝对值/过程变差）/100=（5/0.70）/100=7.1% （1）独立样本法。 ① 获取一样本并确定其基准值。如果不能得到基准值，则选择一个落在产品测量中位数的产品零件，并指定它作为标准样本进行偏移分析。在工具间测量该零件10次，并计算这10次读数的平均值。把这个平均值作为“准值”。可能需要准备测量范围的最小值、最大值和中位数的标准样本。每个样本都要求单独分析。 ② 让一位评价人以通常的方法测量该零件10次。 ③ 计算10个读数的平均值。 ④ 用平均值减去基准值计算偏移 偏移=观测平均值-基准值 过程变差= 偏移占过程变差百分比=偏移/ 偏移分析指南 （2）图表法。 可以使用测量稳定性的 R图表数据来计算偏移。 ① 获取一个样本并确定基准值。如果不能得到基准样本，则选择一个落在产品测量中位数的产品零件，在工具间测量零件10次，将10次读数的平均值作为基准值。 ② 从图表中计算 值。 ③ 用 减去基准值来计算偏移 偏移= -基准值 过程变差= 偏移占过程变差百分比=偏移/ 如果偏移较大，应查找以下可能的原因并采取相应的对策：标准或基准值误差，检验校准程序；仪器磨损；仪器尺寸不对；测量了错误特性；操作不当；仪器校正计算不正确。 偏移分析指南 偏移及分析原理 量具偏倚大的原因 仪器需要校准 仪器、设备或夹紧装置的磨损 磨损或损坏的基准，基准值有误 校准不当或调整基准的使用不当 仪器质量差—设计或一致性不好 线性误差 使用错误的量具 不同的测量方法—设置、安装、夹紧、技术 测量错误的特性 变形 环境 在常量上出错 其他 重复性及分析原理 同一评鉴人员用同一测量仪器测量多次测量同一零件的同一特性所获得的测量变差 重复性及分析原理 量具 A 量具 B 量具 C 量具 A的均值 量具 B的均值 量具 C的均值 重复性及分析原理 仪器变差和重复性的关系 极差图将显示测量过程的一致性，也就反映了重复性。 极差图失控，一般说来，测量系统重复性误差过大，应调查识别失控点的不一致性原因并实施纠正。 如果极差图受控，可以认为测量系统的重复性满足要求。 重复性标准差或仪器变差的估计值为 重复测量的平均极差 仪器变差 根据评价人员、样本数、测量数查表求得 重复性及分析原理 评价人 样本 测量次数和结果 分析计算 1 2 3 平均值 极差 甲 1 2 3 4 5 217 220 217 214 216 216 216 216 212 219 216 218 216 212 220 216.3 218.0 216.3 212.7 218.3 1.0 4.0 1.0 2.0 4.0 平均值 216.3 2.4 乙 1 2 3 4 5 216 216 216 216 220 219 216 215 212 220 220 220 216 212 220 218.3 217.3 215.7 213.2 220.0 4.0 4.0 1.0 4.0 0.0 平均值 216.9 2.6 12 13 + ＝25 ＝25/10＝2.5 ＝2.5/1.72＝1.45 1.72是由评价人和样本个数乘积2*5＝10以每样本3次测量，查表得来。 取值见书231页 D3=0.000，D4=2.575（根据3查表得来，即3次重复测量） 控制图上控制限=UCLR= 控制下控制限=LCLR= ×D3=0.00 ×D4=2.5×2.575=6.4 重复性为5.15 =5.15×1.45=7.5，中5.15代表正态分布的99%测量结果。 重复性及分析原理 再现性及分析原理 不同评价人员用同一测量仪器测量同一零件的同一特性所获得的测量平均值的变差 再现性及分析原理 至 为A和 B的再现性 至 为A和 C的再现性 至 为B和 C的再现性 量具 A 量具 B 量具 C 量具A的均值 量具B的均值 量具C的均值 再现性及分析原理 再现性的标准偏差 其中 R0 评价人最大平均值减去最小平均值的得到极差 3.65R0 则定义再现性为 或 再现性及分析原理 评价人 样本