测控仪器设计2011上课第六章节幻灯片.ppt

光电测控技术研究所 * 第六章 测控仪器的光电系统设计 信息技术是获取信息、传递信息、处理信息和再生信息的技术。 信息技术 电子信息技术 光学信息技术 光电信息技术 它是以电子学方法来实现对信息获取、变换、处理、传输、存储及显示的技术。 它是用纯光学的方法来实现对信息获取、加工、处理和显示的技术。 它是将电子学与光学融合为一体的技术，是光与电转换及其应用的技术。 光电测控技术研究所 * 光电系统是测控仪器的重要组成部分。 光电系统设计 光电变换技术 光信息获取 与测量技术 测量信息的 光电处理技术 利用光电方法 可实现 各种物理量测量 光扫描、光跟踪测量 激光测量 图像测量 光纤测量 红外测量 微光、弱光测量 光电测控技术研究所 * 光电系统的组成 光源 光学系统 被测对象 光学变换 光电转换 电信息处理 存储 显示 控制 用光源发出的光来传递信息的媒介 与光源结合来获得测量所需的光载波，如平行光 光载波与被测对象相互作用并将被测量载荷加到光载波上称为光学变换。 用各种调制方法来实现光学变换的（即将被测量转换为光参量，如振幅、频率、相位、偏振态等）。变换后光载波含有各种被测信息（光信息）。实现的方式用光学系统和各种光学元件的结合。 光学元件有：平面镜、光狭缝、光楔、透镜、角锥棱镜、偏振器、波片、码盘、光栅、调制器等。 光学系统有：成像系统、光干涉系统等。 光信息经过光学器件实现由光向电的信息转换，称光电转换。 光电转换用各种光电变换器件来实现的。 光电器件：光电检测器件、光电摄像器件、光电热敏器件等。 光学变换与光电转换是光电测量的核心部分。 光电测控技术研究所 * 被测工件 下面用激光外径扫描仪原理说明光电测试系统的组成 放大 边缘检测 门控 处理显示 主振 电机驱动 旋转多面体 激光器 f(θ)镜 物镜 光电器件 激光器为光源 多面体和f(θ)镜为产生平行的光学系统，形成光载波 被测工件和物镜构成光学变换，形成变化的光通量 光电器件将变化的光通量转换为电信号 远距离、大量程 非接触测量 具有很强的信息处理 与运算能力 将复杂信息 并行处理 寿命长 高速度 高精度 特点 光电测控技术研究所 * 光电系统的特点 光电测试技术是最具有潜力的信息技术之一 第二节、光电系统特性 （一）光电特性 （二）光谱特性及光谱匹配 （三）光电灵敏度特性 （四）频率响应特性 （五）光电系统的探测率D和比探测率D* 光电测控技术研究所 * 第三节、光电系统设计原则 一、匹配原则 1）光谱匹配 2）功率匹配 3）阻抗匹配 光电测控技术研究所 * 匹配核心是如何正确选择光电检测器件 第三节、光电系统设计原则 二、干扰光最小原则 光电测控技术研究所 * 光电系统中光干扰是造成系统工作不稳定的重要因素。光电系统中的干扰光主要是指杂散光、背景光和“回授光”。干扰光最小原则就是指干扰光对光电系统影响最小，以使系统稳定性好，抗干扰能力强。 第三节、光电系统设计原则 二、干扰光最小原则 光电测控技术研究所 * 减小杂散光措施： 光学滤波、光学调制和光外差检测。 减小背景光措施： 采用光遮断、光隔离、光控制和光补偿的方法。 减小回授光措施： 光偏离、光遮挡、光偏振片。 第三节、光电系统设计原则 三、共光路原则 光电测控技术研究所 * 在光电系统中为了实现精密测量和减小共模干扰，经常采用差动测量系统，以实现被测量与标准量的比较 第四节、光电测量系统中的光源及照明系统 一、光源的基本参数 光电测控技术研究所 * 发光效率 ： 在给定的波长范围内，某一光源所发出的光通量与产生该光通量所需要的功率之比，称为该光源的发光效率 2.光谱功率谱分布 第四节、光电测量系统中的光源及照明系统 一、光源的基本参数 光电测控技术研究所 * 3.空间光强分布特征 4.光源的温度和颜色 第四节、光电测量系统中的光源及照明系统 二、常用的光源 光电测控技术研究所 * 1.太阳光 2.白炽灯 3.气体放电光源 4.半导体发光器件 5. 激光光源 第四节、光电测量系统中的光源及照明系统 三、照明系统设计原则 光电测控技术研究所 * 1）保证足够的光能。 2）有足够的照明范围，照明均匀。 3）照明光束应充满物镜的入瞳。 4）应尽量减少杂光进入物镜，以保证像面的对比度。 5）合理安排布局，避免光源高温的有害影响 第四节、光电测量系统中的光源及照明系统 三、照明系统需要满足以下两个原则 光电测控技术研究所 * 1）光孔转接原则。