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粉体工程与设备 第2章 粉体粒度分析及测量 PARTICLE SIZE ANALYSIS AND MEASUREMENT OF POWDER 2.2 颗粒形状因数 颗粒的形状对粉体的物理性能、化学性能、输运性能和工艺性能有很大的影响。例如，球形颗粒粉体的流动性、填形性好，粉末结合后材料的均匀性高。涂料中所用的粉末则希望是片状颗粒，这样粉末的覆盖性就会较其他形状的好。科学地描述颗粒的形状对粉体的应用会有很大的帮助。同颗粒大小相比，描述颗粒形状更加困难些。为方便和归一化起见，人们规定了某种方法，使形状的描述量化，并且是无量纲的量。这些形状表征量可统称为形状因子，主要有以下几种： 2.2.2 形状系数 2.2.3 球形度 定义：颗粒的等体积球的表面积与颗粒的实际表面积之比。表示符号：φc或ψ。 若颗粒的等表面积当量径为ds，等体积当量径为dv，则其表达式为： 若用 表示之，则有： 球形度计算举例（以棱长为a的立方体颗粒为例）： 颗粒的体积：a3 颗粒的表面积：S=6a2 等体积球的直径： 等体积球的表面积： 所以 问题： 求底面直径为10，直径：高度=1：1的圆柱形颗粒的球形度。 2.3 粒度分布 2.3.2 累积分布 基本概念： 累积分布：将颗粒大小的频率分布按一定方式累积所得到相应的粒度分布。 累积筛余：大于某一粒度的所有颗粒的质量（或个数）占粉体总质量（或总个数）的百分数。用RDp 表示。 累积筛下：小于某一粒度的所有颗粒的质量（或个数）占粉体总质量（或总个数）的百分数。用DDp 或UDp表示。 2.3.3 频率分布和累积分布的关系： 2.3.4 表征粒度分布的特征参数  (1)平均粒径 (2)中位粒径D50 ：把样品个数（或质量）二等两分的颗粒粒径，即 DDp=RDp=50% 时的粒径。 (3)最频粒径 Dmo ：在频率分布图上，纵坐标最大值所对应的粒径，即在颗粒群中个数或质量出现几率最大的颗粒粒径。 若某颗粒群的频率分布式f(Dp)已知，则令f(Dp)的一阶导数为零，便可求出Dmo； 同样，若D(Dp)或R(Dp)为已知，则令其二阶导数等于零，也可求出Dmo。 2.4 颗粒粒度的测量 2.4.1 粒度测量方法 筛分法：一般测量粒径大于45μm（400 目）的颗粒； 比表面积法 沉降法 光透过法：库尔特粒度仪 光散射和衍射法：激光粒度仪 图象法：图象分析仪、SEM、TEM 筛分的优缺点 优点 统计量大 代表性强 便宜 重量分布 缺点 下限38微米 人为因素影响大 重复性差 非规则形状粒子误差 速度慢 显微镜方法的优缺点 优点 可直接观察粒子形状 可直接观察粒子团聚 光学显微镜便宜 缺点 代表性差 重复性差 测量投影面积直径 速度慢 用某种数学解析式表示频率分布曲线—分布函数式，记为f (Dp)。频率分布曲线与横坐标轴围成的面积为：  DDp RDp D50 DDp+RDp=100% 几个等式： 问题：累积筛余曲线与累积筛下曲线的交点所对应的粒径有何特征？ (3)标准偏差 标准偏差以σ表示，几何标准偏差以σg表示。 σ或 σg值越小，说明分布越集中。对于频率分布： 个数基准 质量基准 ? ? ? ? ? 虽DnL(A)= DnL(B)= DnL(C)，但σA＜σB＜σC，故粉体A的分布最窄，C分布最宽。 流体透过法 气体吸附法 重力沉降法 离心沉降法 测量方法 测量装置 测量结果 直接观察法 放大投影器，图像分析仪，（与光学显微镜或电子显微镜相连），能谱仪（与电子显微镜相连） 粒度分布、 形状参数 筛分法 电磁振动式，音波振动式 粒度分布直方图 沉降法 重力 比重计、比重天平、沉降天平 光透过式、X射线透过式 粒度分布 离心力 光透过式、X射线透过式 粒度分布 激光法 光衍射 激光粒度仪 粒度分布 光子相干 光子相干粒度仪 粒度分布 小孔透过法 库尔特粒度仪 粒度分布，个数计量 流体透过法 气体透过粒度仪 比表面积、平均粒度 吸附法 BET吸附仪 比表面积、平均粒度 粒度测定 1．筛分析法 （40μm） 2.显微镜 采用定向径方法测量 光学显微镜 0.25——250μm 电子显微镜 0.001——5μm 显微镜测定粒度要求统计颗粒的总数： 粒度范围宽的粉末———10000以上 粒度范围窄的粉末———1000 左右 * * 材料的机械、物理和化学性质描述了组成材料的物质组态