第七章 原子发射光谱仪的使用简介 第一节 概述.PDFVIP

第七章 原子发射光谱仪的使用简介 第一节 概述 原子发射光谱法（atomic emission spectrometry，AES）是根据试样中被测元素的原 子 （或离子），在光源中被激发而发射的特征光谱 （characteristic spectrum）来进行元素的 定性和定量的分析方法。 一、仪器工作原理 通常组成物质的原子处于最稳定的基态 （ground state），其能量最低。当原子受到外 界能量（如电能、热能或光能）作用时，原子的外层电子就从基态跃迁到更高的能级状 ­8  态即激发态（excited  state）。处于激发态的原子很不稳定，约经 10 s 后，原子跃迁回基 态或其他较低的能级，以光辐射的形式释放出多余的能量，产生光谱。原子发射光谱是 由于原子的外层电子在不同能级之间的跃迁而产生的。利用物质的原子发射光谱来测定 物质的化学组成的方法，称为光谱分析法或称为发射光谱分析法。 发射光谱的能量可用下式表示： c  DE  = E  - E  = h n = h  2  1  l 式中 E 为高能级的能量；E 为低能级的能量；h 为普朗克常数；ν 及λ分别为发射光 2  1  的频率和波长；c 为光速。由上式可知，每一条发射光谱的谱线的波长，和跃迁前后的两 个能级之差成反比。由于原子内的电子轨道是不连续的 （量子化的），故得到的光谱是线 光谱（line  spectrum）。因为组成物质的各种元素的原子结构不同，所产生的光谱也就不 同，也就是说，每一种元素的原子都有它 自己的特征光谱线。原子发射光谱法的研究对 象就是被分析物质所发出的线光谱。通过检测这些特征谱线是否出现，以鉴别某种元素 是否存在，这是光谱定性分析的基本原理。 同样，在一定条件下，这些特征光谱线的强弱与试样中欲测元素的含量符合罗马金­  赛伯经验公式：  b  I = Ac  式中，b 是自吸收系数；I 是谱线强度；c 是元素含量；A 是发射系数。 发射系数 A 与试样的蒸发、激发和发射的整个过程有关，与光源类型、工作条件、 试样组分、元素化合物形态以及谱线的自吸收现象也有关系，由激发电位及元素在光源 中的浓度等因素决定。元素含量很低时谱线自吸收很小，这时  b=1，元素含量较高时， 谱线自吸收现象较严重，此时  b1。因此实际使用过程中，往往采用罗马金公式的对数 形式，这样，只要 b 是常数，就可得到线性的工作曲线。由此可见，在一定条件下，谱 1  线强度只与试样中原子浓度有关，通过测量元素特征光谱线的强度，可以鉴定元素的含 量，这正是原子发射光谱定量分析的基础。 二、仪器的基本组成部分 发射光谱分析过程分为三步：激发、分光和检测。第一步是利用外加能量的作用 （激 发光源）使试样蒸发出来，然后离解成原子，或进一步电离成离子，最后使原子或离子 得到激发，产生特征辐射；第二步是利用光谱仪把光源所发出的光按波长展开，获得光 谱；第三步是利用检测系统记录光谱，测量谱线波长、强度，并进行运算，最后得到试 样中元素的含量。发射光谱仪主要由激发光源、分光系统及检测系统三部分组成。  1．激发光源 光源的主要作用在于使试样蒸发和激发时提供所需的能量。光源本身 的特性在很大程度上影响光谱分析的灵敏度和准确度，因此，选择光源应以适合于分析 试样的要求为宜。常用的光源由 40 年代的直流电弧、交流电弧、高压电火花占统治地位， 发展到 70～80年代电感耦合等离子体光源 （inductively coupled plasma，ICP）成为主流。 此外一些实用光源，如直流等离子体喷焰（direct current plasma jet，DCP）、电容耦合微 波等离子体 （capacitively coupled micro