极差法在发射光谱仪仪器性能方面快速评价方法研究.docVIP

极差法在发射光谱仪仪器性能方面快速评价方法研究 　　摘要提出利用极差法对发射光谱仪仪器性能进行快速评价的原理与方法,该法不需要数据录入即可轻松实现对计量指标的判定,有利于提高计量测试的效率,对类似仪器的快速判断也有借鉴意义。 　　关键词极差法;发射光谱仪;仪器性能;快速评价 　　中图分类号O65;O212文献标识码A文章编号 1007-5739(2009)22-0358-02 　　 　　StudyonFastEvaluationofEmissionSpectrometerinInstrumentFunctionbyRangeStatisticsMethod 　　LI Hai-feng 　　(National Institute ofMetrology P.R. China,Beijing 100013) 　　AbstractThe principle and method of range statistics method were introduced,which was established to evaluate the instrument function of emission spectrometer quickly. With this method,the quantitative indicators could be easily judged without inputting data. It was helpful to improve the efficiency of chemical metrology,and the similar evaluation of other instruments. 　　Key wordsrange statistics method;emission spectrometer;instrument function;fast evaluation 　　 　　仪器分析在分析化学领域占有相当重要的位置,而发射光谱仪是分析仪器中重要的类型之一。随着发射光谱仪的普及和应用,相关研究涉及到众多的行业和领域[1-5]。通常,仪器性能的评价和判断是可靠分析的重要前提和保障,其重要意义不言而喻,发射光谱仪也不例外,目前已进行了大量研究[6,7]。JJG 768-2005《发射光谱仪》中涉及到等离子体发射光谱仪、直读光谱仪、摄谱仪3类仪器,主要的评价指标有检出限、重复性和稳定性等限量指标,检定人员在实际操作过程中往往需要借助计算工具进行判断,其前提必须对原始数据逐一录入后才能计算出最终结果。在实际操作中,发现利用极差法统计学原理通过目测、口算即可实现对测量指标的定性和定量判断,不需要录入数据,具有方便、实用的特点。笔者于2009年7月初在贵阳举办的《紫外、可见、近红外分光光度计》和《发射光谱仪》规程宣贯会上首次对该方法进行了介绍,引起大家广泛的兴趣。极差法是一个基础的统计方法,与标准偏差和平均差是描述数据离散程度的常用指标[8],应用广泛[9],但未见应用于检出限等发射光谱仪性能评价方面的报道。该方法实用、简便,在仪器实际检测过程中,尤其是当仪器测量次数受程序限制及其他原因不能直接计算或需核验时,可以起到较好的参考和指导作用,对其他类似仪器的检定、校准也有一定的借鉴意义。 　　1原理 　　1.1极差法原理 　　实验标准偏差除可利用贝塞尔公式(式1)计算外,也可以利用极差法获得。在重复性条件下,对待测元素x作n次独立测量,n个测量结果中最大值与最小值之差称为极差。假设被测元素x接近正态分布,则单次测量结果XK的试验标准偏差可按式2近似评定。 　　u(xK)=s(xK)=(1) 　　式中,xK-第k次测量结果;-测量结果的平均值;n-测量次数。 　　u(xK)=s(xK)=(2) 　　式中,R-极差;C-极差系数(表1)。 　　与贝塞尔公式比较,测量次数在4～9次时,利用极差法估算实验标准偏差要优于贝塞尔公式。其原因在于,当测量次数较少时,贝塞尔公式给出的实验标准差s 并不是标准偏差δ的无偏估计。测量次数较大(超过10次)时,极差法由于采集信息量较少,不如贝塞尔公式优势明显[10,11]。 　　1.2应用分析 　　JJG 768-2005《发射光谱仪》检定规程(以下简称规程)中实验标准偏差是以贝塞尔公式(式1)计算的,其中主要计量指标要求测定被测元素的次数以6次或10次计算(研究发现,也可以用极差法近似处理)。当用极差法计算时,直接通过目测及口算方法即可实现对测试数据的定性判断,可大大提高检定、校准人员现场操作的效率,便于人员对仪器性能的快速判定。 　　2方法 　　2.1检出限 　　检出限的定义是:在测量误差服从正态分布的条件