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实验 09 用牛顿环测曲率半径
光的干涉现象证实了光在传播过程中具有波动性。 光的干涉现象在工程技术和科学研究方面
有着广泛的应用。获得相干光的方法有两种:分波阵面法(例如杨氏双缝干涉、菲涅尔双棱镜干
涉等)和分振幅法(例如牛顿环等厚干涉、迈克尔逊干涉仪干涉等) 。本实验主要研究光的等厚
干涉中的两个典型干涉现象,即牛顿环和劈尖干涉,它们都是用分振幅方法产生的干涉,其特点
是同一条干涉条纹处两反射面间的厚度相等,故牛顿环和劈尖都属于等厚干涉。在实际工作中,
通常利用牛顿环来测量光波波长,检查光学元件表面的光洁度、平整度和加工精度,利用劈尖来
测量微小长度、薄膜的厚度和固体的热膨胀系数等。
【实验目的】
1. 观察光的干涉现象及其特点。
2. 学习使用读数显微镜。
3. 利用牛顿环干涉测量平凸透镜的曲率半径 R。
入射光
4. 利用劈尖干涉测量微小厚度。
【仪器用具】
R
读数显微镜、钠光灯、牛顿环装置、劈尖
r
K
dK
【实验原理】
O
(a)
1. 牛顿环
牛顿环干涉现象是 1675 年牛顿在制作天文望远镜
时,偶然地将一个望远镜的物镜放在平面玻璃上而发现
的。
如图 8-1 所示,将一个曲率半径为 R( R 很大)的
平凸透镜的凸面放在一块平面玻璃板上, 即组成了一个牛
顿环装置。 在透镜的凸面与平面玻璃板上表面间, 构成了
D 1
一个空气薄层,其厚度从中心触点 O (该处厚度为零)
向外逐渐增加,在以中心触点 O 为圆心的任一圆周上的
X 1(左) X 1(右)
D
4
各点,薄空气层的厚度都相等。因此,当波长为 的单
X4(左) X4(右) 色光垂直入射时, 经空气薄层上、 下表面反射的两束相干
光形成的干涉图象应是中心为暗斑的宽窄不等的明暗相 (b)
间的同心圆环。 此圆环即被称之为牛顿环。 由于这种干涉
条纹的特点是在空气薄层同一厚度处形成同一级干涉条
图8-1 牛顿环的产生
纹,因此牛顿环干涉属于等厚干涉。
设距离中心触点 O 半径为
r 的圆周上某处,对应的空气薄层厚度为 dK ,则由空气薄层上、
K
下表面反射的两束相干光的光程差为
K 2dK (8-1)
2
式中 是因为光线由光疏媒质(空气)进入光密媒质(玻璃)在交界面反射时有一位相 的突变
2
而引起的附加光程差(半波损失) 。
由图 8-1 所示的几何关系,有:
2
R
(R d )
K
2
2
r
K
2
R
2 Rd
K
d
2
K
2
r
K
因为
R d ,故可略去
K
2
d 项而得:
K
d
2
r
K
K 2
R
(8-2)
根据干涉条件,两束相干光当光程差为波长的整数倍时互相加强,光程差为半波长的奇数倍
时互相抵消,因此,第 K 级明环和暗环的形成条件是:
K 为明环 (8-3)
(2K 1) 为暗环 (8-4)
2
由公式( 8-1)、(8-2)、(8-3)、(8-4)可求得第 K 级明环和暗环的半径为:
明环:
(2K 1)R
rK K 1,2 ,3, (8-5)
2
暗环: rK KR K 0,1,2, (8-6)
从公式( 8-5)、(8-6)可知,在平凸透镜凸面与平面玻璃的接触点(即 r 0 )处,干涉圆
K
环为暗环,实际观察到的是一个暗圆斑。
2. 透镜曲率半径 R 的测量方法及系统误差的处理方法
如果已知入射光波长 ,则只要设法测得明环或是暗环的半径
r ,就可以由( 8-5)、(8-6)
K
式求得平凸透镜的曲率半径 R 值,反之,当曲率半径 R 已知时,则可求得波长 值。
但是,由于玻璃的弹性形变及接触处不干净等原因,使接触处不可能是一个几何点,即中心
点的半径不为零,这使得在环心处平凸透镜与平面玻璃之间有一附加厚度(其符号可正可负) ,
环心的干涉结果会是一个较大的暗斑,这种情况均导致每环半径
r 发生变化,这时如果仍用
K
(8-5)、(8-6)式进行计算,就势必造成较大的系统误差。改用下述方法进行测量,就能消除这
个系统误差。
假设用暗环进行测量,测出第 m 级和 n 级的暗环半径
r 和 rn ,设这些数据带有上述系统误
m
差,但我们可以认为: r 是测准了的,误差主要是在级数 m 和n 上,由于加上了一个附加厚度,
使得在理想的点接触时, 本该是第( m x)环之处,我们现在看到的是第 m 环,本该是第( n x )
环之处,我们现在看到的是第 n 环。按( 8-5)、(8-6)式本该有:
rm (m x)R
rn (n x)R
上面两式是准确的,把它们平方后相减可得
2 2
rm rn (m n)R
即
R
2
r
m
(m
2
r
n
n)
若用环的直径来表示,则上式可写为
R
2
D
m
4( m
2
D
n
n)
(8-7)
(8-7)式只涉及两环级数之差,而不决定于级数本身,从而消除了因级
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