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利用消光椭偏仪精确测量波片相位延迟量
]引言
波片是基于晶体双折射性质的偏振器件,在光纤技术、光学测量以及各种偏 振光技术等领域具有广泛的应用其中1/4波片及1/2波片在偏振器件中应 用尤其广泛。测量波片相位延迟量的方法主要有:光强探测法⑷、旋光调制法⑸、 半阴法⑹、光学补偿法⑺等。这些方法主要基于对光强的测量,容易受光源的不 稳定及杂散光的干扰,精度受到一定的限制,测量误差一般在0?5。。我们从理 论上分析了利用椭偏仪测量波片相位延迟量的可能性,讨论了其测量精度及误差 来源,并利用HST-3型消光式椭偏仪⑷测量了 1/4波片以及1/2波片相位延迟量。 实验表明:测量过程不受光强波动的影响,方法简单,操作方便,精确度高,测 量波片相位延迟量精度达0. 005° ,是测量任意波片相位延迟量的有效及实用的 方法。
测量的原理
利用消光式椭偏仪测量波片相位延迟量吋,光路要调整成直通的状态。如图 1所示,其屮P为起偏器,Q为标准1/4波片,C为待测波片,A为检偏器。
LaserPQ C ADetector
Laser
P
Q C A
Detector
图1椭偏仪测量波片相位延迟量光路图
由透射式椭偏方程为切:
(1)? a
(1)
tan# ?e‘ =
其中0和A为椭偏参数,可由椭偏仪测量。T”,T$分别是样品的p分量和s分
量的透射系数,透射波的复振幅为(耳冲E2s ),入射波的复振幅为(久,E15)o
设为波片快轴与入射面的夹角,/为其快慢轴之间的相位延迟量,则波片 的通用矩阵为何:
TOC \o 1-5 \h \z (cos4-/sinycos20 -isinfsin 20
G= . ,
i 一,sin孕sin2 cos¥ + isin^cos20)
经过一个波片后,出射光艮为:\ 2 2 2 7
经过一个波片后,出射光艮为:
EJ
(cosy-zsinycos20 -isinysin20 、
EJ
2$丿
sin 各 sin 20 cos 今 + zsin 各 cos 20 丿
?
i$)
取入射光E、=
i$)
(E}卩 cos 4 一 iE、卩 sin 4 cos 20 一 iE}、sin 4 sin 2、 i E] , cos 4 一 iE、p sin 4 sin 20 + iEls sin 4 cos 20 丿
F
令話E,⑶式代入⑴得
? a tan(/ ?e=cos f-Zsiny cos 20
? a tan(/ ?e=
cos f+ /sinf cos 20 — i — sin 各 sin 20 E
所以(4)式就是测量样品的相位延迟量的椭偏方程,只要测量椭偏参数(y/, A) 值就能通过椭偏方程求出波片相位延迟量/ o为了便于测量,讨论特定的0值下,
(鸭,△)值与波片相位延迟量的关系:
当二0。时,即波片的快轴平行于入射面,则
泊 cos4 —/sin4 一Q /r\
tan i// . e = = 二-e (5)
cosy + zsiny
因此 tan 0 = 1, A = —S o
当二45°时,波片的快轴与入射面成+45° ,则
丛 cosf-ZEsinf
tan i// . e = j (6)
cos 舟一 j —sin孕
E 2
由⑹式可知,(八△)值可以通过数值反演得到(厂E)值。
当0二90。时,即波片的快轴垂直与入射面,则
cos j + zsinf _ cos4-zsin^
因此 tan妙=1, y
分析表明,椭偏仪的光路处于直通的形式,通过选择波片放置的值为0。
或90° ,容易测量得到△值,即波片相位延迟量5值。
波片相位延迟量测量误差分析
影响波片相位延迟量测量准确度主要有:标准1/4波片的偏差及待测波片 快轴与入射面夹角御误差等,下面从公式(4)岀发,讨论两者误差对波片测量 延迟量的影响:
(1)当标准1/4波片和待测1/4波片的相位延迟量都是理想的90。时,得到》 与啲关系如图1所示,0的变化范围是一4。?4。。(下图要修改)
91E1s/E1 p=-i
91
E1s/E1 p=-i时angle在到5时的图像
90 8 90 6 90.4
TO90 2
TO
90
89.8 89 6 89.4
标准片和待测1/4
标准片和待测1/4波片完全理想的情况下的曲线
89—— 1
-5 -4 -3 -2 0 1 2 3 4 5
angle
图2当标准1/4波片理想时待测波片6与0的关系
可见,当标准1/4波片在理想情况下,待测1/4波片的方位角不影响其和位延 迟量测量。
(2)实际上,由于波片受温度及制作工艺的影响,其相位延迟量不可能是理想 的90%设待测1/4波片的相位延迟量为88. 8°,标准1/4波片在87。?93。内变 化时,待测
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