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1、 画出正向偏置的NPN晶体管在如下情况的基区少数载流子分布:(1)发射结偏压增加,集电结偏压固定;(2)发射结偏压固定,集电结偏压增加;(3)共发射极模式,基极开路。 2、 分析Early Effect和Kirk效应对电流增益和特征频率的影响,并画出电流增益和特征频率随集电极电流的变化规律。 4、在双极晶体管开关过程中发射结偏压和集电结偏压是如何变的。 延迟过程:发射结偏压由反偏向正偏(0.5V)导通过渡, 集电结偏压由大的反偏到小的反偏过渡。 上升过程:发射结偏压由正偏(0.5V)到导通(0.7V) , 集电结偏压由反偏到零偏过渡。 贮存过程:发射结正偏压基本不变, 集电结偏压由正偏到零偏过渡。 下降过程:发射结偏压由导通(0.7V)到正偏 (0.5V) , 集电结偏压由零偏到大的反偏过渡。 5、比较pn结二极管和BJT的开关特性。 相同点:正向导通有压降,反向截止有漏电流;输入、输出存在 延迟。 不同点:晶体管开关有电流及电压放大;晶体管输入、输出电压 相位相差180o,二极管同相位。 Semiconductor Devices: Basic Principles ? Dr. B. Li Early效应的影响: VCB增加,xmc增加→ xB下降→?增加,fT增加 Kirk效应的影响: xB增加→?下降,fT下降 小电流段,τE反比于Ic变化,因而 Ic增大总渡越时间减小, fT升高。Ic增加到τE远小于其它时间常数之和时,τEC趋近于常数,fT达到最高值。随着Ic继续增大,fT出现下降趋势是由于有效基区的扩展效应(Kirk)效应)开始起作用。 3、解释BVCB0>BVCE0, 并证明 ICE0=(1+?)ICB0。 IC=?IE+ICB0 由于基极开路, IB=0, IC=IE=ICE0 因此, ICE0=?ICE0+ICB0 由于,?=?/1-? 所以, ICE0=(1+?)ICB0 大注入电场是指pn 结正向注入的少数载流子超过平衡的多数载流子浓度,此时,电中性的要求,少子要有和多子一样的浓度分布,如在npn晶体管的基区,电子的分布需要一个由集电结指向发射结的电场来完成,该电场即为大注入电场,可见大注入电场对基区非平衡少子的扩散运动起加速作用,有助于双极晶体管电流增益的提高。 非均匀掺杂电场,以npn晶体管的基区为例,由于基区的掺杂浓度自发射区向集电区递减,空穴浓度差使得空穴向集电区方向扩散,造成正、负电荷分离,留下不可动的电离受主,因而产生了由集电结指向发射结的电场,该电场即为非均匀掺杂电场。可见非均匀掺杂电场对基区非平衡少子的扩散运动起加速作用,有助于双极晶体管电流增益的提高。 6、比较pn结内建电场、大注入电场和基区非均匀掺杂电场的物理机制。 Semiconductor Devices: Basic Principles ? Dr. B. Li
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