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第二章 原子发射光谱分析法 一、概述 Introduction 二、原子发射光谱的产生 Formation of atomic emission spectra 三、谱线强度 Spectrum line intensity 四、谱线自吸与自蚀 Self-absorption and selp reversal of spectrum line 一、概述 generalization 原子发射光谱分析法的特点: 二、原子发射光谱的产生 formation of atomic emission spectra 原子的共振线与离子的电离线 三、谱线强度 spectrum line intensity 将Ni代入上式,得:谱线强度公式为: 由上式可知,谱线强度与五个因素有关: 1、激发电位:是负指数关系。即,激发电位愈大,谱线强度就愈小。 这是由于随着激发电位的增高,处于该激发态的原子数迅速减少。实践证明,绝大多数激发电位较低的谱线都是比较强的,激发电位最低的共振线往往是最强线。 2.跃迁几率:谱线强度与跃迁几率成正比。 跃迁是指原子的外层电子从高能态跳跃到低能态发射出光量子的过程。 跃迁几率是指两能级间的跃迁在所有可能发生的跃迁中的几率。它可通过实验数据计算得到。 3.统计权重:是和所处激发态能级的简并度有关的常数。 在磁场中,有时一条谱线可以分裂为几条谱线。这是由于具有相同的n、L、J(内量子数)值,但有不同的磁量子数mj值所引起的。mj是决定总角动量沿磁场分量的量子数,与J值有关,在数值上mj为: mj=±J,±(J-1)…… 因此,mi可取2J+1个不同值。 在无外磁场的作用下,具有相同的n、L、J的每一能级,可以认为是由2J+1个不同的能级合并而成的。所以,(2J+1)这个数值,称为简并度或统计权重。谱线强度与统计权重成正比。 (内量子数J取决于总角量子数L和总自旋量子数S的矢量和) 4.激发温度 温度升高,谱线强度增大。但是,由于温度升高,体系中被电离的原子数目也将增多,而中性原子数相应减少,致使原子线强度减弱。沙哈(Saha)指出,电离度x与激发温度T的关系式为: 电离电位V愈大,则电离度愈小。对于电离能较高的元素,激发温度的变化不会对原子线的强度有很大影响。 第19页图2-l(如下面ppt)为一些谱线强度与温度的关系曲线。曲线表明,各元素谱线各有其最合适的温度。在此温度时,谱线强度最大。 5.基态原子: 谱线强度与基态原子数N0成正比。而N0是由元素的浓度决定的,所以在一定条件下,N0∝C。 谱线强度与元素的浓度应有关。光谱定量分析就是根据这一关系而建立起来的。 离子谱线,其强度除与以上5个因素有关外,还与元素的电离电位V有关.离子线的强度为 式中,N为中性原子及离子的密度,V为电离电位, E为激发电位,K为 , 以上讨论均限于谱线的绝对强度,实际工作中,准确测定谱线的绝对强度是很困难的,所以在光谱定量分析中,常采用谱线的相对强度。 四、谱线的自吸与自蚀 self-absorption and self reversal of spectrum line 内容选择 * * 第一节 原子发射光谱分析基本原理 atomic emission spectrometry,AES basic principle of AES 原子发射光谱分析法(atomic emission spectroscopy ,AES):元素在受到热或电激发时,由基态跃迁到激发态,返回到基态时,发射出特征光谱,依据特征光谱进行定性、定量的分析方法。 1859年,基尔霍夫(Kirchhoff G R)、本生(Bunsen R W) 研制第一台用于光谱分析的分光镜,实现了光谱检验; 1930年以后,建立了光谱定量分析方法; 原子光谱 <> 原子结构 <> 原子结构理论<> 新元素 在原子吸收光谱分析法建立后,其在分析化学中的作用下降,新光源(ICP)、新仪器的出现,作用加强。 (1)可多元素同时检测 各元素同时发射各自的特征光谱; (2)分析速度快 试样不需处理,同时对几十种元素进行定量分析(光电直读仪); (3)选择性高 各元素具有不同的特征光谱; (4)检出限较低 10~0.1?g?g-1(一般光源);ng?g-1(ICP) (5)准确度较高 5%~10% (
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