微电子器件测试与封装-第四章.pptxVIP

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  • 2020-06-15 发布于浙江
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微电子器件测试与封装-第四章;器件的分类;1、ICEO,ICBO,IEBO 2、BVCEO,BVCBO,BVEBO 3、VCESAT、VBESAT 4、hFE 5、VFBE 、VFBC 、VFEC 6、开关时间:TS、TF 7、热阻 ;;IGBT的参数;VF VR IR ;;;自动分选机;常规测试系统 (JUNO DTS-1000);静态参数测试设备介绍;可靠性测试设备介绍;动态参数测试设备介绍;质量及其单位;;;;;;;;;;;;;;1.測試項目(IGSS),測試線路如右:;2.測試項目(IDSS),測試線路如右:;3.測試項目(BVDSS),測試線路如右:;4.測試項目(VTH),測試線路如右:;5.測試項目(Rdson),測試線路如右:;5.測試項目(Rdson),測試線路如右:;6.測試項目(VFSD),測試線路如右:;7.測試項目(VP),測試線路如右:;8.測試項目(GMP),測試線路如右:;MOSFET的交流參數;MOSFET的交流參數;;1、有时候读书是一种巧妙地避开思考的方法。五月-20五月-20Monday, May 11, 2020 2、阅读一切好书如同和过去最杰出的人谈话。23:20:4823:20:4823:205/11/2020 11:20:48 PM 3、越是没有本领的就越加自命不凡。五月-2023:20:4823:20May-2011-May-20

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