凸透镜统一标准不确定度的误差分析.docVIP

凸透镜焦距测定误差分析 林明菊 摘 要：透镜是光学仪器中最基础光学元件，而透镜焦距是透镜关键参量之一，透镜成像位置及性质（大小、虚实）均和其相关。本文经过对凸透镜焦距测定研究，在相同测量条件下采取两次成像法取不一样d、D值测得结果进行比较分析，总结出D值选择对不确定度影响规律，为焦距测量试验提供部分数据参考。 关键词：薄透镜；凸透镜；焦距；测量方法；试验误差 不一样透镜有不一样焦距，而同一透镜焦距有多个测量方法，对于测量方法选择应依据不一样透镜、不一样精度要求和具体试验条件选择适宜方法。测量凸透镜焦距方法关键有以下多个：物距像距法测凸透镜焦距、辅助透镜成像法测凸透镜焦距、两次成像法测凸透镜焦距（又称共轭法、贝塞尔法或位移法）、自准直法测凸透镜焦距等。笔者依据现有实际情况及试验条件，对大学物理中常见两次成像法，选择在多种物屏像屏距离D值（D＞4f）情况下测量凸透镜焦距，并经过不确定度分析总结出在相同条件下，怎样选择适宜物屏像屏距离 1．透镜基础知识 透镜是由两个折射面所限定透明体组成称为透镜，是光学仪器中最基础光学元件。薄透镜是透镜中最基础一个，其厚度较本身球面曲率半径及焦距要小得多，厚度可忽略不计。薄透镜可分为凸透镜和凹透镜。其中心厚度大于边缘厚度称为凸透镜，中心厚度小于边缘厚度称为凹透镜[1]。 焦距是光学系统中衡量光聚集或发散度量参数，指从透镜光心到光聚集之焦点距离，它是表征透镜成像性质关键参数。 2. 测量值不确定度意义 在物理测量中，测量理想值是取得被测量在测量条件下真值，但在实际测量过程中因为试验方法、试验仪器和试验者操作技能等原因影响，测量值只能是被测量一个近似值，但它是在真实值周围一个测量值范围内，测量不确定度就是评定此测量值范围一个测量质量指标。若此量值范围越窄，即测量不确定度越小，则测量值表示真实值可能性就越高[2]。 因为测量值有误差，误差起源不一样对其测量值影响也不一样。总体来说物理试验测量误差起源关键为两类，一类是偶然误差，另一类是系统误差（仪器引入误差和试验方法引入误差）。偶然误差是由反复测量产生偶然效应，使测量值分散而引入，所以用统计方法评定标准不确定度，就是标准不确定度A类评定；仪器引入误差是因为仪器影响，使测量值向某一方向有恒定偏移而引入，所以用统计方法评定标准不确定度，就是标准不确定度B类评定。因为其测得值不确定度起源不止一个，所以对于某物理量测定后，要计算测得值不确定度，要合成其标准不确定度，即称为合成标准不确定度。在本文中对凸透镜焦距分为九组（每组测五次）进行测量后，分别求合成标准不确定度，用以探究和真实值最靠近一个焦距值范围。 3. 测凸透镜焦距所使用试验仪器 光具座是测量几何光学关键试验仪器之一。它不仅造型美观、结构合理，而且使用灵活方便、经久耐用，是测量凸透镜焦距必备仪器，尤其是导轨和滑座各附标尺，便于测量滑座平移距离。它由导轨（用于盛放双面像屏、激光光源支架、弹性镜架等仪器器件）、滑座（调整滑座使其标尺零位对准导轨中央凸棱，以此作为水平位初始状态）、可调支架、弹性镜架、弹簧片架、弹簧片架、双面像屏、激光光源支架、延伸架、光源用开关电源、可调升降立柱、刻度载物平台等组成。 4. 两次成像法测量凸透镜焦距试验原理 两次成像法测凸透镜焦距光路图以下图所表示。设保持物屏和像屏相对位置不变，并使其距离，当凸透镜置于物屏和像屏之间时，能够找到两个透镜位置，像屏上全部能得到清楚像，图所表示。透镜两个位置（和）之间距离绝对值为。利用物像共轭对称性质，轻易证实 L2 L2 L1 两次成像法原理图 只要测出和，就能够算出。因为是经过透镜两次成像而求得，所以此法又称为两次成像法。同时能够看出，成像时全部是把透镜看成无限薄，物距和像距全部近似地用从透镜光心算起距离来替换，而这种方法中则毋须考虑透镜本身厚度。所以，用这种方法测出焦距通常较为正确[3]。 5. 测凸透镜焦距试验方法 测凸透镜焦距首先要对光学系统进行共轴调整，其目标是使各透镜光轴重合且和光具座导轨严格平行，光线能经过各元件中心，将像展现在像屏上，进而避免无须要像差和使读数正确，共轴调整有粗调和细调两个步骤。若在物屏、像屏、光源不变情况下，移动凸透镜，两次成像像中心位置不变，则能够判定出各元件已经共轴[4]。 在共轴调整完成以后才能进行凸透镜焦距测量，将物屏和像屏固定在相距大于位置，测出它们之间距离，但要注意是测量物、透镜及像位置时，要检验滑块上读数准线和被测平面是否一致，假如不一致会造成误差，该试验是用T形辅助棒法去测，位置统一由辅助棒法所在滑块准线去读，误差将会减小。再者人眼对成像清楚度分辨能力不是很强，所以像屏在一小范围内移动时，人眼所见像是一样清楚，此范围为深景。为了降低由此引入误差，可由进向远和由远向近移动白屏，去探测像位置，并取二位