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第六篇习题 -金属和半导体接触
刘诺 编
6-1、什么是功函数?哪些因数影响了半导体的功函数?什么是接触势差?
6-2、什么是 Schottky势垒?影响其势垒高度的因数有哪些?
6-3、什么是欧姆接触?形成欧姆接触的方法有几种?试根据能带图分别加以分
析。
6-4、什么是镜像力?什么是隧道效应?它们对接触势垒的影响怎样的?
6-5、施主浓度为 7.0 ×1016cm-3 的 n 型 Si 与 Al 形成金属与半导体接触, Al 的功
函数为 4.20eV,Si 的电子亲和能为 4.05eV ,试画出理想情况下金属 -半导体接触
的能带图并标明半导体表面势的数值。
6-6、分别分析 n 型和 p 型半导体形成阻挡层和反阻挡层的条件。
6-7、试分别画出 n 型和 p 型半导体分别形成阻挡层和反阻挡层的能带图。
6-8、什么是少数载流子注入效应?
6-9、某 Shottky 二极管,其中半导体中施主浓度为 2.5 ×1016cm-3 ,势垒高度为
0.64eV,加上 4V 的正向电压时,试求势垒的宽度为多少?
6-10、试根据能带图定性分析金属 -n 型半导体形成良好欧姆接触的原因。
第六篇 题解 -金属和半导体接触
刘诺 编
6-1、答:功函数是指真空电子能级 E0 与半导体的费米能级 EF 之差。影响功函
数的因素是掺杂浓度、温度和半导体的电子亲和势。
接触势则是指两种不同的材料由于接触而产生的接触电势差。
6-2、答:金属与 n 型半导体接触形成阻挡层,其势垒厚度随着外加电压的变化
而变化,这就是 Schottky 势垒。影响其势垒高度的因素是两种材料的功函数,
影响其势垒厚度的因素则是材料(杂质浓度等)和外加电压。
6-3、答:欧姆接触是指其电流 - 电压特性满足欧姆定律的金属与半导体接触。形
成欧姆接触的常用方法有两种,其一是金属与重掺杂 n 型半导体形成能产生隧
道效应的薄势垒层,其二是金属与 p 型半导体接触构成反阻挡层。其能带图分
别如下:
6-4、答:金属与半导体接触时,半导体中的电荷在金属表面感应出带电符号相
反的电荷,同时半导体中的电荷要受到金属中的感应电荷的库仑吸引力,这个
吸引力就称为镜像力。
能量低于势垒顶的电子有一定几率穿过势垒,这种效应就是隧道效应。隧
道穿透的几率与电子的能量和势垒厚度有关。
在加上反向电压时,上述两种效应将使得金属一边的势垒降低,而且反向
电压越大势垒降得越低,从而导致反向电流不饱和。
6-5、解:金属与半导体接触前、后能带图如图所示
E
n
k T
n0 Nc e 0
N
c
E k T ln
n 0
n0
19
2.8 10
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