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X 光系列实验报告 本次共做了调校测角器的零点，测定晶体的晶面间距，测定 X 光在铝中的衰减系数，并验 证朗伯定律和普朗场常数 h 的测定。通过做一系列的实验，从而对 X 射线的产生、特点、 原理和应用有较深刻的认识， 提高自己的实验能力并提高独立从事研究工作的能力。 本次分 别写了 X 光在铝中的衰减系数，并验证朗伯定律和普朗克常数 h 的测定的实验报告。 实验一、测定 X 光在铝中的衰减系数，并验证朗伯定律 一、实验的目的和意义 通过本实验了解 X 射线的基础知识， 学习 X 射线仪的一般操作；掌握 X 射线的衰减与吸收 体材料和厚度的关系，训练实验技能和实验素养。 二、实验原理和设计思想 X 射线穿过物质之后，强度会衰减，这是因为 X 射线同物质相互作用时经历各种复杂的 物理、化学过程，从而引起各种效应转化了入射线的部分能量。 X 射线穿过物质时要减弱， 减弱的大小取决于材料的厚度和密度。在同一介质里不同波长的射线减弱的程度不同。 满足： 本实验研究 X 射线衰减于吸收体材料和厚度的关系。 假设入射线的强度为 R0 ，通过厚度的吸收体后 ，由于在吸收体内受到“毁灭性”的相互作用， 强度必然会减少， 减少量显然正比于吸收体的厚度， 也正比于束流的强度 R ，若定义 μ为 X 射线通过单位厚度时被吸收的比率，则有 μ 考虑边界条件并进行积分，则得： . 0e^(- μx ） 透射率 0, 则得： ^(- μx) 或μx 式中 μ称为线衰减系数， x 为试样厚度。 我们知道，衰减至少应被视为物质对入射线的散射和吸收的结果，系数 μ应该是这两部分 作用之和。但由于因散射而引起的衰减远小于因吸收而引起的衰减，故通常直接称 μ为线 吸收系数，而忽略散射的部分。 三、实验内容与步骤 o o o 设置高压 35, 设置电流 0.02, 设置步长 Δβ=0.1设置 Δ3s, 下限角为 6 ，上限角为 70 。将 铝板底板端部插入原来靶台的支架，置传感器于 0 位，按下键，然后再按。 四、数据处理和讨论 由于 改写为 所以只需验证 与 d 成线性关系即可，由于本实验未测出 是多少，所以先去除 ，验 证 与 d 成线性关系。 758.787 449.41 271.7855 168.304 117.7 70.3 -6.6317 -6.1079 -5.6050 -5.1258 -4.7681 -4.2528 d （） 0.5 1 1.5 2 2.5 3 . 由拟合可得近似为一条直线，所以 X 射线满足朗伯定律。 下求 X 光在铝中的衰减系数 μ 由 得 分别带入上述数据可得 1.04, 1.006 ，0.958 ，0.715, 1.03 1,2,3,4,5 μ= (1.04+1.006+0.958+0.715+ 1.03)/5=0.9478 七．实验结论以及误差分析。 在衰减箔厚度对