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* 均值图 均值图-非层叠 均值图-层叠 第五十九页，共一百一十二页。 * 少于一半的点落在控制限外边： 测量系统缺乏足够的分辨率 样本不能代表期望的制造过程变差。 多于一半的点落在控制限外边， 测量系统能够充分探测零件之间的变差 测量系统能够提供对过程分析和过程有用的信息。 第六十页，共一百一十二页。 * A B 那组数据可以接受？ 第六十一页，共一百一十二页。 * R=(RA+RB+RC)/3 XDIFF=Max{XA,XB,XC}-Min{XA,XB,XC} 重复性--设备变差 EV=R?K1 再现性--测验人变差 AV= (XDIFF ?K2)2-(EV2/nr) 过程变差 PV= RP ?K3 RR= (EV2+AV2) 总变差 TV= (RR2+PV2) %EV=EV/TV %AV=AV/TV %RR=RR/TV %PV=PV/TV P/T=RR/Tolerance n=样品个数 r=每个人对每个样品的试验次数 r K1 2 3 4.56 3.05 K2 2 3 3.65 2.70 测试人数 n K3 7 8 9 10 1.82 1.74 1.67 1.62 K1=6/d*2 *AV计算中，如根号下出现负值，AV取值0 结果分析—计算 计算公式： 第六十二页，共一百一十二页。 * TV或