薄晶体的高分辨像.pptxVIP

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2022-07-01 发布于江西
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薄晶体的高分辨像.pptx

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第七章薄晶体的高分辨像;高分辨电子显微镜(HRTEM)与透射电镜（TEM）存在以下区别： 1）成像束：HRTEM为多电子束成像，而TEM则为单电子束。 2）结构要求：HRTEM对极靴、光阑要求高于TEM。 3）成像：HRTEM仅有成像分析，包括一维、二维的晶格像和结构像，而TEM除了成像分析还可衍射分析。 4）试样要求：HRTEM试样厚度一般小于10nm，可视为弱相位体，即电子束通过试样时振幅几乎无变化，只发生相位改变，而TEM试样厚度通常为50~200nm。 5）像衬度：HRTEM像衬度主要为相位衬度，而TEM则主要是振幅衬度。 ;7.1.1 试样透射函数的近似表达式 ;对于理想透镜，相位体的像不可能产生任何衬度。实际上由于物镜存在球差、色差、像散（离焦）以及物镜光阑、输入光源的非相干性等因素，此时可产生附加相位，从而形成像衬度，看到晶格条纹像。有意识地引入一个合适的欠焦量，即让像不在准确的聚焦位置，可使高分辨像的质量更好。这些因素的集合体即为相位传递函数。 ;衬度传递函数;2）球差;像平面上的像面波函数;最佳欠焦条件及电镜最高分辨率;7.1.5 第一通带宽度;（1）离焦量;（2）加速电压;7.2高分辨像举例;　　(a) 非晶样品典型的无序点状衬度　 (b) 样品中非晶组分和小晶粒形态分布;一维结构像;7．2．3二维晶格像;7．2．4二维结构像;(c) Tl2ba2CuO6超导氧化物结构像 (d) Yba2Cu3O7超导氧化物解理表面的结构像