X射线荧光光谱仪原理及主要用途.docVIP

X射线荧光光谱仪原理及主要用途. X射线荧光光谱仪原理及主要用途. PAGE/NUMPAGES X射线荧光光谱仪原理及主要用途. 荧光光谱仪主要使用领域 荧光光谱仪原理 仪器是较新式X射线荧光光谱仪,拥有重现性好,测量速度快,矫捷度高的特点。能解析F(9~U(92之间全部元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,解析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可 以对各种形状样品定性解析,并能给出半定量结果,结果正确度对某些样品可以凑近定量水平,解析时间短。薄膜解析软件FP-MULT1能作镀层解析,薄膜解析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm. 仪器种类:0303040903/仪器仪表/成份解析仪器/荧光光度计 指标信息:1.发射源是Rh靶X光管,最大电流125mA,电压60kV,最大功率3kW2.仪器在真空条件下工作,真空度13pascals3.5块解析晶体,可以解析元素周期 表F~U之间全部元素,含量范围是ppm~100%4.解析软件是Philips公司(现为 PANalytical最新版软件,既可作半定量,也可定量解析。精美度:在计算率N=1483870 时,RSD=0.08%牢固性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03% 附件信息:循环水致冷单元,计算机P10气体瓶空气压缩机 解析对象主要有各种磁性资料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy、钛镍记忆合 金、混杂稀土重量、贵金属饰品和合金等,以及各种形态样品的无标半定量解析,对 于平均的颗粒度较小的粉末或合金,结果凑近于定量解析的正确度。X荧光解析快 速,某些样品当天就可以获取解析结果。适合课题研究和生产监控。 X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧 光。 波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体依照Bragg定律将不相同能量 的谱线分开,尔后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源, 可分为序次式(或称单道式或扫描式、同时式(或称多道式谱仪、温序次式与同时式相结合的谱仪三各种类。序次式经过扫描方法逐个测量元素,因此测量速度平时比同时式慢,适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成,对测量速度要求高和批量试样解析,序次式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 能量色散X射线荧光光谱 非色散谱仪 非色散谱仪不是采用将不相同能量的谱线分辨开来,而是经过选择激发、选择滤 波和选择探测等方法使测量解析线而消除其他能量谱线的搅乱,因此一般只适用于测量一些简单和组成基本固定的样品。 全反射X射线荧光 若是n1n2,则介质1相对于介质2为光密介质,介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线,一般固体与空气对照都是光疏介质。因此,若是介质1是空气,那么α1α图2(2.20右图,即折射线会偏向界面。若是α1足够小,并使α2=0,此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1α临界时,界面就象镜子相同将入射线全部反射回介 质1中,这就是全反射现象。 能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度解析器将不相同能量的脉冲分开并测 量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为拥有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪平时采用液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器 或闪烁计数器为探测器,它们不需要液氮冷却。近来几年来,采用电致冷的半导体探测器,高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步幅射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区 射线荧光光谱等很多采用的是能量色散方式。 X射线荧光光谱法有以下特点: 解析的元素范围广,从4Be到92U均可测定; 荧光X射线谱线简单,相互搅乱少,样品不用分别,解析方法比较简略; 解析浓度范围较宽,从常量到微量都可解析。重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差; 解析样品不被破坏,解析快速,正确,便于自动化。 应用领域 RoHS检测解析 地矿与合金(铜、不锈钢等成分解析 金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定 黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测