第一篇组织形貌分析(终版).pptVIP

8.2 纳米材料形貌分析 低倍像 高倍像 多孔氧化铝模板制备的金纳米线的形貌 第九十四页，共一百三十四页。 8.2 纳米材料形貌分析 铅笔状ZnO纳米线的SEM图像 第九十五页，共一百三十四页。 8.2 纳米材料形貌分析 水热法合成PbS分级结构的SEM图像 S. Xiong, J. Phys. Chem. C 111, 16761-16767 (2007) 第九十六页，共一百三十四页。 8.2 纳米材料形貌分析 左手材料SRR阵列的SEM图像 第九十七页，共一百三十四页。 8.2 纳米材料形貌分析 水中 甲苯中 J. Cui et al., J. Colloid Interface Sci. 326, 267-274 (2008) 三氯甲烷中 有机低分子凝胶因子在不同溶剂中的自组装形貌 第九十八页，共一百三十四页。 8.2 纳米材料形貌分析 S. Al-Malaika et al., Polymer 46, 209-228 (2005) PET/EPR 80:20 w/w PET/EPR 60:40 w/w 聚对苯二甲酸乙二酯 (PET)和乙丙橡胶(EPR)共混体系形貌 第九十九页，共一百三十四页。 电子束与固体样品作用时产生的信号 扫描电镜的工作原理 扫描电镜衬度像（ 二次电子像、背散射电子像） 9. 扫描电镜重点内容回顾 Flash 短片 第一百页，共一百三十四页。 10. SEM演示录像 第一百零一页，共一百三十四页。 思考题： 1．扫描电镜中三种主要信号分别是什么？如何产生？可以分别用来进行哪些方面的材料分析？三种信号分辨率的高低如何？ 2．简述扫描电镜的工作原理。 3．为什么二次电子像可以提供样品表面形貌信息？ 4. 扫描电镜制样中需要注意的问题是什么？ 第一百零二页，共一百三十四页。 第 1 篇 组织形貌分析 第四章 扫描探针显微分析技术 第一百零三页，共一百三十四页。 第四章 扫描探针显微分析技术 1. 扫描探针显微技术简介 2. 扫描隧道显微镜（重点） 3. 原子力显微技术（重点） 4. 其他扫描探针显微技术 第一百零四页，共一百三十四页。 弹性背散射电子 入射电子 非弹性背散射电子 二次电子 特征X射线 2.2 扫描电镜中三种主要信号的产生过程 第六十二页，共一百三十四页。 2.2 扫描电镜中的三种主要信号 二次电子： 背散射电子： 特征X射线： 被入射电子轰击出来的样品中原子的核外电子（内层电子或价电子）。反映样品表面的形貌特征，分辨率高。 被固体样品原子反射回来的一部分入射电子，包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。形貌特征及定性成分分析。 入射电子激发原子内层电子后，外层电子跃迁至内层时发出的具有特征能量的X射线光子。定量成分分析。 第六十三页，共一百三十四页。 其他信号 俄歇电子：入射电子激发样品原子内层电子后，外层电子跃迁至内层时，多余能量转移给最外层电子，使其挣脱原子核的束缚并逸出样品表面，成为自由电子，即俄歇电子。详细的介绍见本书第三篇第十三章俄歇电子能谱部分。 透射电子 : 入射电子穿透样品的部分，包括未经散射的入射电子、弹性散射电子和非弹性散射电子。携带被样品吸收、衍射的信息，用于透射电镜的成像和成分分析。 第六十四页，共一百三十四页。 2.3 各种信号的深度和区域大小 入射电子束受到样品原子的散射作用，偏离原来方向，向外发散。随着电子束进入样品深度的不断增加，入射电子的分布范围不断增大，动能不断降低，直至动能降为零，最终形成一个规则的作用区域。 样品原子序数对入射电子束作用区域的影响：轻元素样品，电子束散射区域的外形 ——“梨形作用体积”；重元素样品——“半球形作用体积” 。 梨形作用体积 入射电子束的作用区域： 第六十五页，共一百三十四页。 2.3 各种信号的深度和区域大小 ③ 入射电子能量对作用区域的影响：改变电子能量只引起作用体积大小的变化，而不会显著的改变形状。 电子束能量与作用体积的关系 入射电子束的作用区域： 第六十六页，共一百三十四页。 有效作用区：可以产生信号的区域。电子有效作用深度：有效作用区的最深处。 有效作用区内的信号并不一定都能逸出材料表面、成为有效的可供采集的信号。 随着入射电子有效作用区域深度增加，作用区范围增大，信号产生的空间范围也增加，信号的空间分辨率降低。 2.3 各种信号的深度和区域大小 入射电子束 俄歇电子（0.4~2 nm） 二次电子 (5~10 nm) 背散射电子(100 nm~1 ?m) SEM的分