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DNV - June 1999 P管制图 P图是用来测量一批检验项目中不合格品项目的百分数。 收集数据:选择子组的容量、频率和数量 子组容量：子组容量足够大（最好能恒定），并包括几个不 合格品。 分组频率：根据实际情况，兼大容量和信息反馈快的要求。 子组数量：收集的时间足够长，使得可以找到所有可能影响 过程的变差源。一般为25组。 计数型数据控制图 第六十三页，共八十五页。 DNV - June 1999 计算每个子组内的不良率（P） P=np /n n为每组检验的产品的数量； np为每组发现的不良品的数量。 选择控制图的坐标刻度 一般不良品率为纵坐标，子组别（小时/天）作为横坐标,纵坐标的刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍。 第六十四页，共八十五页。 DNV - June 1999 将不良率描绘在控制图上 a 描点，连成线来发现异常图形和趋势。 b 在控制图的“备注”部分记录过程的变化和可能影响 过程的异常情况。 计算过程平均不良率（P） P=（n1p1+n2p2+…+nkpk）/ (n1+n2+…+nk) 式中：n1p1；nkpk 分别为每个子组内的不合格的数目 n1；nk为每个子组的检验总数 第六十五页，共八十五页。 DNV - June 1999 计算上下控制限（USL；LSL） USLp = P + 3 P ( 1– P ) / n LSLp = P – 3 P ( 1– P ) / n P 为平均不良率；n 为恒定的样本容量 注： 1、从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之 变化。 2、在实际运用中，当各组容量不超过其平均容量25%时， 第六十六页，共八十五页。 DNV - June 1999 问题类型与SPC 问题类型 T型 A型 X型 造成問題的原因 明确 明确 不明 最佳控制条件 明确 不明 不明 可用之统计工具 管制图 层別法 检定/推定相关回归 D.O.E D.O.E 责任者 操作者 现场主管 研发人員 SQC之分法 SPC DOE On - line Off - line 第三十一页，共八十五页。 DNV - June 1999 制程控制系统  有反馈的过程控制系统模型 过程的呼声 人 设备 材料 方法 产品或 环境 服务 输入 过程/系统 输出 顾客的呼声 我们工作的方式/资源的融合 统计方法 顾客 识别不断变化的需求量和期望 第三十二页，共八十五页。 DNV - June 1999 1、分析过程 2、维护过程 本过程应做什么？ 监控过程性能 会出现什么错误？ 查找变差的特殊原因并 本过程正在做什么？