亚硕SPC课程讲义.pptVIP

製作管制圖的注意事項： 正確選擇管制項目、以免無效管制。 訂定合理之管制界限，以免產品或製程條件超出規格。 訂定適當的檢查間隔，以免造成資源（人力）浪費或者不良品發生而不知道。 對於製程持續加以監控，以期在問題未發生前進行對策的處理。 * 第三十页，共五十五页。 管制方法與取樣頻率 重要特性(CC,SC） 次要特性 製程能力 管制方法 取樣頻率 管制方法 取樣頻率 1.67 ≦ Cpk ＜2 x-R管制 查檢表 低 中 免驗 1.33≦Cpk ＜ 1.67製程能力足夠 x-R管制 查檢表 中 高 查檢表 中 1.0≦Cpk＜1.33製程能力不充分 x-R管制 高 x-R管制 中 Cpk＜1.0 工程能力不足 , 4M改善 檢驗 全檢 檢驗 全檢 高： 0.5-1hr 中：2-4hr 低：每班 * 第三十一页，共五十五页。 管制圖繪製原則 基本資料：製程名稱、管制特性、測定樣本、測定單位、規格值、設備號碼、操作者、測定者、抽樣方法、樣本數、期間、製程要因（4M+IE）。 中心線（CL）記以實線，管制上限（UCL）及管制下限（LCL）記以虛線，中心線、管制上限、管制下限分別記入其數值及CL、 UCL、 LCL等符號。 UCL與 LCL距離決定座標，使上下限之距離在30~40mm，太寬太窄均不適合。 * 第三十二页，共五十五页。 平均值與全距管制圖 適用製程 可用以管制分組之計量數據，即每次同時取得幾個數據之工程。 適把握工程狀態最有效的一種管制圖 * 第三十三页，共五十五页。 平均值與全距管制圖 n A2 D4 D3 d2 2 1.880 3.267 0 1.128 3 1.023 2.575 0 1.693 4 0.729 2.282 0 2.059 5 0.577 2.114 0 2.326 6 0.483 2.004 0 2.534 7 0.419 1.924 0.076 2.704 8 0.373 1.864 0.136 2.847 9 0.337 1.816 0.184 2.970 10 0.308 1.717 0.223 3.078 管制界限係數表 ASTM STP-15D * 第三十四页，共五十五页。 先確立製程穩定且製程能力足夠 選擇量測點：在每一個製程中會有很多量測點，但如何確定量測點是有效的且重要的呢？有以下數點可供參考： 要找出製程中最重要的點，不要使管制圖淪為“日記”。 或許該點不易量測，此時可考慮使用代用特性。 此點在現在為量測點，但並不表示永遠是量測點。 建立步驟 * 第三十五页，共五十五页。 規劃資料圖表格式： 在進行管制圖的製作時，一份好的表格應包括之背景資料如下（ASQC所用之表格）： 日期 品名或零件 量測單位 操作者 其他相關資料 * 第三十六页，共五十五页。 繪圖與解析階段 Step1.蒐集欲管理項目之數據-取100個以上。3~5個為一組，共分成20~34組，測定出每一個樣本值（X） 在進行管制圖的製作時，由於需要“連續取樣”，因此通常一個樣本會包含3~5個。 * 第三十七页，共五十五页。 Step2.依測定時間順序排列數據 Step3.計算各組平均值（X bar） Step4.計算各組全距（R） R＝X的最大值（方框）－ X的最小值（圓框） * 第三十八页，共五十五页。 Step5.計算全部平均值（X double bar） ；計算各組全距的平均值（R bar） 計算出全部數據的平均值及平均全距。在本例分別為平均值=0.58，平均全距為=0.13。 * 第三十九页，共五十五页。 Step6.查係數D4 、 D3，計算全距管制界限 先求出全距的管制圖，如此可知“非隨機性變異”是否存在，假使超出則代表有“非隨機性變異”，若不穩定則不須檢查平均值是否在監控（亦即是否超出管制界限）。此時應著手於製程穩定度的改善工作。 全距的中心線＝ 全距的管制上限為 全距的管制下限為 * 第四十页，共五十五页。 全距是否都在管制界限內： * 第四十一页，共五十五页。 Step7.查係數A2 ，計算平均值管制界限 平均值的中心線＝ 平均值的管制上限為 平均值的管制下限為 * 第四十二页，共五十五页。 平均值是否都在管制界限內： * 第四十三页，共五十五页。 Step8.繪製管制界限及中心線，平均值管制圖在上，全距管制圖在下 平均值管制圖，CL劃實線，UCL及LCL是虛線 全距管制圖，CL劃實線，UCL及LCL是虛線 在管制線末端記入CL、UCL、LCL符號及其數值，較清晰易懂 * 第四十四页，共五十五页。 Step9.管制圖點繪 首先找出最大和最小的平均值，在找出最大和最小的全距，以便確定座標的範圍及最小刻度，如此才可將所有資料全部點繪在圖表中。 * 第四十五页，共五十