第3章超声检测技术分类与选用.docVIP

PAGE PAGE 105 第3章 超声检测技术的分类与选用 超声检测技术分类的方式有多种，较常用的有以下几种： 1．按原理分类：脉冲反射法、穿透法、共振法、衍射时差法等； 2．按显示方式分类：A型显示、B型显示、C型显示； 3．按声束入射方向分类：直射声束法、斜射声束法（横波法、瑞利波法、兰姆波法）； 4．按探头数目分类：单探头法、双探头法、多探头法； 5．按耦合方式分类：接触法、液浸法； 6．按人工干预的程度分类：手工检测、自动检测。 每一个具体的超声检测技术都是上述不同分类方式的一种组合，如最常用的：单探头纵波垂直入射脉冲反射接触法（A型显示）。在日常工作中，人们常说的纵波探伤往往就是指这种技术。 每一种检测技术都有其特点与局限性，针对每一检测对象所采用的不同的检测技术，是根据检验目的及被检件的形状、尺寸、材质等特征来进行选择的。 3.1按检测原理分类 按检测原理分类，超声检测可分为脉冲反射法、穿透法和衍射时差法（TOFD）等； 3.2.1脉冲反射法 脉冲反射法是由超声波探头发射脉冲波到试件内部，通过观察来自内部缺陷或试件底面的反射波的情况来对试件进行检测的方法。脉冲反射法又分为缺陷回波法、底波高度法、多次反射法等。 一．缺陷回波法 缺陷回波法就是根据从缺陷上反射的回波情况来判断缺陷的检测方法。该方法以回波的传播时间来确定缺陷的位置，以回波的幅度对缺陷定量，是脉冲反射法的基本方法。 1．方法简介： 如图3-1所示，当试件中不存在缺陷时，A显示波形中仅有发射脉冲T和底面回波B两个信号。而当试件中存在有缺陷时，在发射脉冲与底面回波之间将出现来自缺陷的回波F。缺陷回波的高度与缺陷的反射面大小、形状、缺陷性质及其距探头的距离有关，通过观察缺陷的回波F的高度可对缺陷的大小进行评估，通过观察回波F距发射脉冲的距离，可得到缺陷的埋藏深度。 图3－1 缺陷回波法 2．缺陷回波法的优缺点： （1） 缺陷回波法的主要优点： ① 当材质条件较好且选用探头适当时，脉冲回波法可观察到非常小的缺陷回波，达到很高的检测灵敏度。 ② 缺陷定位精度高，缺陷判断也较容易。 脉冲反射法可以充分地利用缺陷反射波的传播时间，通过调节扫描速度，对缺陷进行精确定位，故对缺陷判断也较容易。 ③ 适用性广泛 脉冲反射法可以使用不同的探头，采取不同的耦合方式进行检测，既可进行纵波检测，也可以进行横波、表面波和板波检测，并且能对各类工件从多方面进行检测。 ④ 现场操作方便 脉冲反射法使用单探头检测时，不需要任何扫查装置，现场操作方便。 由于脉冲反射法因具有上述优点，是一种广泛应用的方法。 （2）脉冲反射法的缺点， ① 脉冲反射法的缺点存在一定的盲区，对位于表面和近表面的缺陷检出能力低。 ② 声波由发射到接收要通过双倍的声程，因而声能衰减大，不利于高衰减材料的检测。 ③ 对取向不良(倾斜)的缺陷可能接收不到回波而漏检，如图3-2所示。 图3-2 探测取向不良的缺陷 二．底波高度法 底波高度法就是根据工件底面回波的高度变化情况来判断缺陷的检测方法。底波高度法也称为底波衰减法。 1．方法简介 图3-3是底波高度法判断缺陷的原理，当试件的材质和厚度、表面状态不变时，底面回波B的高度基本是不变的。当试件中存在一定尺寸的缺陷或存在材质的剧烈变化时，底面回波的高度会下降甚至消失。因此，对检测面与底面平行的试件进行脉冲回波直射声束法超声检测时，底面回波高度的监测也可作为一种判断缺陷的检测手段。 2．方法特点： （1）底波检测缺陷灵敏度较低，且无法对缺陷定位，定量也较难，因此，常作为辅助手段以发现一些与入射面成一定角度的缺陷或小而密集的缺陷。这类缺陷往往反射幅度很低，或观察不到反射信号。 （2）仅适应于上下底面平行、形状简单的工件检测，如铸、锻件的检测。 （3）同样投影面积的缺陷可得到大致相同的显示，不出现盲区。 a为完好状态 b 存在吸收性缺陷 c存在倾斜缺陷 d 存在大面积缺陷 图3-3 根据底面回波判断缺陷的示意图 三．多次反射法 多次反射法就是根据工件底面多次反射波的情况来判断缺陷的检测方法，多次反射法也称为多次底波法。 1．方法简介 图3-4是多次反射法判断缺陷的原理，超声波在互相平行的探测面和底面之间往复多次反射，使荧光屏上出现多次底波。如果工件中无缺陷，超声波从工件底面的反射波，一部分能量被探头接收使荧光屏上产生一次回波(B1)，另一部分能量又从探测面折回底面再被探头接收，得到二次回波B2，如此往复多次，直至声能损耗完为止，使荧光屏上出现的多次底波高度依次递减(如图3-4a)；如果工件中存在吸收性的缺陷，由于缺陷的反射和散射增加了声能的损耗，从而使底波次数减少(如图3-4b)；另一方面，缺陷的存在打乱了底波高度依次递减的规则，在较高的