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集成电路制造技术集成电路制造技术JI CHENG DIAN LU ZHI ZAO JI SHU ——原理与工艺主讲/田丽王蔚
单晶硅衬底 单晶硅衬底JI CHENG DIAN LU ZHI ZAO JI SHU 第1章
1.1 硅晶体结构特点1.2 单晶硅衬底制备1.3 硅晶体缺陷1.4 硅晶体中杂质目 录CONTENTS1.5 切制硅片
5、切制硅片工艺流程腐蚀液:HF:HNO3=3:1
硅片主要晶向、晶型的定位平边主平边次平边 5、切制硅片
1234567890V型槽标记硅片主要晶向、晶型的定位平边 5、切制硅片主平边V型槽
硅片规格及用途 按直径划分:主要规格3~18英寸(75~450mm),IC集成度越高使用的硅片尺寸就越大 按抛光面划分:单抛多用于IC、双抛用于两面都有器件的芯片 按单晶生长方法划分:CZ硅(片),二极管、外延衬底、太阳能电池、IC;MCZ硅(片),用途和CZ硅相似,性能好于CZ硅;FZ硅(片),高压大功率器件,可控整流器件。 5、切制硅片
硅片规格及用途 按掺杂等情况划分:如电阻率或杂质浓度、晶向、杂质类型等高阻硅(片):多用于大功率整流器件中阻硅(片):主要用于晶体管等分立器件低阻硅(片):主要是作为外延衬底 按按用途划分:有二极管级硅片,集成电路级硅片,太阳电池级硅片等 5、切制硅片
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