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1. 闪烁灯
实验任务
如图 4.1.1 所示:在 P1.0 端口上接一个发光二极管 L1,使 L1 在不停地一亮一灭,一亮一灭的时间间隔为 0.2 秒。
电路原理图
图 4.1.1
系统板上硬件连线
把“单片机系统”区域中的 P1.0 端口用导线连接到“八路发光二极管指示模块”区域中的 L1 端口上。
程序设计内容
(1). 延时程序的设计方法
作为单片机的指令的执行的时间是很短,数量大微秒级,因此,我们要求的闪烁时间间隔为 0.2 秒,相对于微秒来说,相差太大,所以我们在执行某一指令时,插入延时程序,来达到我们的要求,但这样的延时程序是如何设计呢?下面具体介绍其原理:
如图 4.1.1 所示的石英晶体为 12MHz,因此,1 个机器周期为 1 微秒机器周期 微秒
MOV R6,#20 2 个 2
D1: MOV R7,#248 2 个 2 2+2×248=498 20×
DJNZ R7,$ 2 个 2×248 (498
DJNZ R6,D1 2 个 2×20=40
10002
因此,上面的延时程序时间为 10.002ms。
由以上可知,当 R6=10、R7=248 时,延时 5ms,R6=20、R7=248 时, 延时 10ms,以此为基本的计时单位。如本实验要求 0.2 秒=200ms, 10ms×R5=200ms,则 R5=20,延时子程序如下:
DELAY: MOV R5,#20 D1: MOV R6,#20 D2: MOV R7,#248 DJNZ R7,$
DJNZ R6,D2 DJNZ R5,D1 RET
(2). 输出控制
如图 1 所示,当 P1.0 端口输出高电平,即 P1.0=1 时,根据发光二极管的单向导电性可知,这时发光二极管 L1 熄灭;当 P1.0 端口输出低电平, 即P1.0=0 时,发光二极管 L1 亮;我们可以使用 SETB P1.0 指令使P1.0 端口输出高电平,使用 CLR P1.0 指令使 P1.0 端口输出低电平。
程序框图
如图 4.1.2 所示
图 4.1.2
7. C 语言源程序#include AT89X51.H sbit L1=P1^0;
void delay02s(void) //延时 0.2 秒子程序
{
unsigned char i,j,k; for(i=20;i0;i--)
for(j=20;j0;j--)
for(k=248;k0;k--);
}
void main(void)
{
while(1)
{ L1=0;
delay02s();
L1=1;
delay02s();
}
2. 模拟开关灯
实验任务
如图 4.2.1 所示,监视开关 K1(接在 P3.0 端口上),用发光二极管 L1(接在单片机 P1.0 端口上)显示开关状态,如果开关合上,L1 亮,开关打开, L1 熄灭。
电路原理图
图 4.2.1
系统板上硬件连线
(1). 把“单片机系统”区域中的 P1.0 端口用导线连接到“八路发光二极管指示模块” 区域中的 L1 端口上;
(2). 把“单片机系统”区域中的P3.0 端口用导线连接到“四路拨动开关”区域中的
K1 端口上;
程序设计内容
(1). 开关状态的检测过程
单片机对开关状态的检测相对于单片机来说,是从单片机的 P3.0 端口输入信号, 而输入的信号只有高电平和低电平两种,当拨开开关 K1 拨上去,即输入高电平, 相当开关断开,当拨动开关 K1 拨下去,即输入低电平,相当开关闭合。单片机可以采用 JB BIT,REL 或者是 JNB BIT,REL 指令来完成对开关状态的检测即可。
(2). 输出控制
如图 3 所示,当 P1.0 端口输出高电平,即 P1.0=1 时,根据发光二极管的单向导电性可知,这时发光二极管 L1 熄灭;当 P1.0 端口输出低电平,即 P1.0=0 时,发光二极管 L1 亮;我们可以使用 SETB P1.0 指令使 P1.0 端口输出高电平, 使用 CLR P1.0 指令使 P1.0 端口输出低电平。
程序框图
图 4.2.2
7. C 语言源程序#include AT89X51.H sbit K1=P3^0;
sbit L1=P1^0; void main(void)
{
while(1)
{ if(K1==0)
{
L1=0; //灯亮
}
else
{
L1=1; //灯灭
}
}
}
3. 多路开关状态指示
实验任务
如图 4.3.1 所示,AT89S51 单片机的 P1.0-P1.3 接四个发光二极管 L1-L4, P1.4-P1.7 接了四个开关 K1-K4,编程将开关的状态反映到发光二极管上。
(开关闭合,对应的灯亮,开关断开,对应的灯灭)。
电路原理图
图 4.3.1
系统板上硬件连线
(1
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