小口径薄壁管环焊缝用横向曲面相控阵超声探伤技术.docxVIP

小口径薄壁管环焊缝用横向曲面相控阵超声探伤技术 1 缝超声自动检测 过去，小口径实质膜厚带的闭合孔通常采用辐射法进行损伤。射线照相有明显局限性:有安全和环保问题, 要延长生产流程, 要耗用胶片和药液, 还有对面状缺陷检出率低的固有弱点。有些规程允许对此类焊缝做手工超声检测, 但检测结果缺乏客观性记录, 检测可靠性在很大程度上取决于操作者的经验和水平。最近, 由于便携式相控阵智能化超声设备的出现, 小径管焊缝超声自动检测 (AUT) 也能在工业上得到实用, 已能提供可靠的、并可追踪的检测结果。 ASME B31.3规范案例179和181的出现, 已允许小径管环焊缝采用超声自动检测。规范案例181特别要求对缺陷精确测长和定量, 这对小径管无疑是一项难度很高的要求, 因为超声波进入管壁后会产生波束扩散。从而导致缺陷测长或定量值过大, 以致返修率偏高。相控阵能使超声波束在管子轴向作用面内聚焦, 因而对缺陷壁厚方向的尺寸能较好地定量。但是, 迄今为止, 只有超声矩阵阵列探头才能使波束在管子周向曲面内聚焦, 尽管其聚焦能力有限。 采用矩阵和曲面阵列探头都能解决轴向和周向的聚焦问题。但矩阵阵列制作成本高, 操作复杂。为此, 一开始就确立小径管曲面相控阵超声检测建模方式:要求只采用两种横向曲率, 就基本上能覆盖多种小径管, 而与管壁厚度无关。制作了半径较大的横向曲面阵列, 用它对设置在小径薄壁管中已知形状尺寸的反射体作了探测和定量试验, 并与常用的非聚焦标准 (平面) 阵列作了比较。早先, 相控曲面阵列也曾用于直径较大的管道管子的检测。 这里介绍有关试验结果, 实验证明:相控曲面阵列的缺陷定量准确度明显提高。曲面阵列的操作无需添加特殊硬件或软件。 2 分辨率控制矩阵建模 2.1 试验1,采用相控阵接头仿真 采用相控阵仿真软件 (PASS) 程序将各种超声波束模式化。探头及相关参数如下:频率5MHz;带宽70%;有效面积:10mm2;楔块:SA1-N45S;波束角度:横波45°;管径:从50mm开始;壁厚5mm;管材:碳钢 (纵波声速:5800m/s, 横波声速:3230m/s) ;探头主动轴 (纵向) 平行于管轴;焦深:5mm和10mm (管子内外壁) 。 注意:当前使用的相控阵仿真软件还不能仿真二次波 (1.0S波) 声场, 作用到管子外壁的声场是计算出来的, 忽略了管子内壁反射, 只考虑超声波在金属材料中的总声程。 试验所用相控阵探头有以下三种:①矩阵探头:16×8阵元;②横向曲面线阵列探头:16阵元, 曲面沿从动轴 (横向) , 曲面半径22mm;③平面线阵列探头 (5L16-A1) :16阵元。 2.2 曲面线阵列接头的仿真 图1表示三种相控阵探头的仿真试验显像结果, 示出了在波束传播方向上的波束轮廓 (前视图和俯视图) 。将图中3a～3d相控阵显像与1a～1d或2a～2d相控阵显像进行比较, 特征一目了然:用平面线阵列探头产生的波束聚焦状态明显劣于用矩阵阵列探头或横向曲面阵列探头产生的波束。有关图1说明, 详见表1。 采用矩阵探头与具有最佳曲率半径的线阵列探头相比, 并无明显优点。这可能是因为壁厚薄的缘故。若焊缝余高未磨平, 则超声波束入射点离焊缝中心线偏远, 因而不得不使用多次声程波探测。但若要求波束具有偏转能力, 则矩阵阵列有独特优势。 随后, 用10MHz阵列对四种直径25mm、30mm、50mm和75mm作了仿真试验。此时, 因为对较薄壁厚需用多次声程波探测, 试验证明壁厚不重要, 所以使用声程趋向于相当恒定。图2 (a) 示出了曲面线阵列探头的最佳仿真结果 (说明详见表2) 。为供比较, 图2 (b) 示出了10MHz平面线阵列探头的仿真结果 (说明详见表3) 。 显然, 与平面探头相比, 曲面阵列探头在管子周向产生的超声波束宽度较窄, 接近于入射处的波束宽度。这样, 就减小了超声波束在管子内外壁的固有扩散角。 除非管径小于25mm, 一般管子外壁对曲面阵列探头产生的波束形状影响不大。对小于25mm的管径, 宜采用曲率半径较小的曲面阵列探头。 综上所述, 曲率半径40mm的曲面阵列探头适用于管径大于25mm的管子, 而曲率半径30mm的曲面阵列探头适用于管径小于25mm的管子。这两种曲面阵列探头能有效地覆盖常用的各种小径管环焊缝的超声相控阵检测。 3 检测条件和方法 用曲面相控阵探头对外径为70mm和38mm的小径管分别作了检测。两种管径的试样管及其人工反射体尺寸布置见图3。注意:曲率半径为40mm的曲面阵列适合于外径为25mm和40mm的管子。加工了两种曲面楔块, 以与被检小管曲率吻合。 用奥林巴斯全扫型MX相控阵设备 (Olympus OmniScan MX) 和典型的相控阵程序, 对设有线槽和小孔的试样管进行了扫查