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光回波损耗检测仪校准方法的研究 0 回波损耗测试 光回波损失（后向反射）是光传输系统中的一个重要参数。目前，通常使用ocwr法来测试反射源（件）中的光能量，并比较测量装置中的光能量回波损失。使用此方法的测试仪器包括JDS Uniphase公司的RM3(RX3)系列Backreflection meter,Agilent公司光多用表中的回波损耗测试模块,国内中国电子科技集团公司第41研究所的AV6332回波损耗测试仪等。 光回波损耗测试仪现在国家还未制定相应的检定规程或校准规范,上海市计量测试技术研究院电子与电气计量技术研究所几年来开展了光回波损耗测试仪的校准,并对光回波损耗测试仪的校准项目以及内容进行了有关的探索,对客户送检的不同生产厂家的光回波损耗测试仪进行了校准,2007年4月光回波损耗测试校准项目通过了国家实验室能力认可。 1 pr/pi的比对 光器件的回波损耗是对光器件引起的、沿输入路径返回部分输入光功率的量度。 后向反射BR定义为由光器件反射向光源的光功率Pr与入射向光器件的光功率Pi的比值。 BR=Pr/Pi(1) 后向反射通常用dB来表示: BR= 10*lg(Pr/Pi) (2) 因为Pr总是小于Pi,所以后向反射为负(单位为dB) 而回波损耗RL为后向反射的幅度值,为正值。 RL=-10lg(Pr/Pi) (3) 2 ocwr光回波损失测试的原理框架图和计算公式 2.1 光耦合光催化机组基于表达的光催化器 OCWR光回波损耗测试仪由以下几个部分组成:内部光源、光耦合器、光监视器和光探测器构成。其中也包括测试时所需要的自校准参考校准线(件)以及测试所有的连接跳线。 2.2 监测器光功率测试mef、mpra、pdut的方法 RLDUT=?10lg{MREFMDUT×PDUT?MDUTMPARA×PPARAPREF?MREFMPARA×PPARA×RREF}(4)RLDUΤ=-10lg{ΜREFΜDUΤ×ΡDUΤ-ΜDUΤΜΡARA×ΡΡARAΡREF-ΜREFΜΡARA×ΡΡARA×RREF}(4) 式中:MREF、MPARA、MDUT分别为监测器在测试端面的使用反射系数为RREF的校准线(件)、反射系数为0和待测件时的测试光功率;PREF、PPARA、PDUT分别为探测器在测试端面的使用反射系数为RREF的校准线(件)、反射系数的0和待测件时的测试光功率。另外,回波损耗测量的最小值取决于测试仪和跳线的FC/APC端面的回波损耗值以及光探测器的最小测试功率。 3 光纤端面的校准和测量 由于光回波损耗测试仪的测量准确度与自校准有关,下面简单介绍光回波损耗测试仪的自校准方法和测试步骤。 仪器首先预热30 min,由于光纤的移动及机械拉伸等均会改变单模光纤中的偏振状态,偏振状态的改变又将造成输出光的不稳定,从而影响测试准确度,为了减少光纤接线的变动对测量结果的影响,需要将连接光纤固定于工作台面。 另外,有条件的实验室,最好在校准之前,使用显微镜检查一下光纤端面,因为其端面不好将直接影响校准结果,同时也有可能损坏自校准件和光纤跳线。 1) 输入所用自校准件的回波损耗值至仪器 将所用的校准件的回波损耗值(取决于自校准件的类型),输入至回波损耗测试仪中。 2) 将自校准件接入到回波损耗测试仪中进行回波损耗的校准 将回波损耗(后向反射系数)已知的标准线(件)自校准,使仪器得到标准回波损耗(反射系数)时的光反射功率。 3) 使用全匹配的终端来校准零位 由于回损测试仪的测试端面为FC/APC端面接头,在进行测试时需要连接光线跳线,连接跳线一端为FC/APC端面,一端为FC/PC端面,零位的校准是将跳线的FC/PC端在绕纤棒(如果无绕纤棒可以使用铅笔杆)缠绕5圈以上。 至此,就完成了光回波损耗测试仪的自校准,自校准的目的是消除波长依赖性,耦合器定向性,插入损耗,后向散射和其它系统非理想状态对测量结果造成的影响。 4) 连接跳线插入损耗的测量 因为仪器测试得出的回波损耗值也包含了连接跳线的损耗,因此,需要进行光纤跳线损耗的测量。对于JDS UNIPHASE的后向反射测试仪,只是需要将连接跳线的FC/PC端面接于光功率计。 5) 接上待测件(DUT),测试其回波损耗值。 4 清洁端面的校准 光回波损耗测试仪主要由光功率计、光源、自校准线(件)和光回波损耗测试模块等组成。光回波损耗测试准确度取决于光纤端面的清洁度、测试所用光源的功率稳定度、光回波损耗探测动态范围和准确度、自校准所用的校准线(件)的准确度、仪器以及连接跳线的端面回波损耗。 校准之前,首先需要对光纤以及连接跳线和自校准参考线(件)进行清洁,每次拔出或接入光纤,都需要清洁端面;校准线(件)、测试跳线本身的回波损耗值以及各端面的清洁程度均会对测试结果造成重大