太阳电池及太阳电池用硅片光致发光缺陷检测仪校准规范.docx

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太阳电池及太阳电池用硅片光致发光缺陷检测仪校准规范

1范围

本规范适用于太阳电池片及太阳电池用硅片光致发光缺陷检测仪的校准。

2引用文件

GB/T19953数码照相机分辨率的测量

GB/T20733数码照相机术语

JJF2063-2023光伏电池组件电致发光缺陷检测仪校准规范

凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文件，

其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规范。

3术语和定义

下列术语和定义适用于本校准规范。

3.1PL缺陷photoluminescencedefect

通过光致发光作用，在太阳电池和太阳电池用硅片中观察到的对电池性能造成不良影

响的特征。

3.2线对linepairs

具有同样方向及宽度的黑白相间的成对条纹。

[来源：JJF2063，3.3]

3.3线对每毫米linepairspermillimeter

采用能分辨的每毫米等间隔黑白线对数来表示分辨能力的度量单位。

[来源：GB/T20733，定义5.8]

3.4PL空间分辨率PLspatialresolution

PL空间分辨率用于表征光致发光缺陷检测仪对PL图像的细节分辨能力。根据光学成像系统常见的成像质量测试方法，通常采用等宽度的黑白条纹作为成像目标对成像系统的空

间分辨率进行测试，以rs表示测试结果，单位为“线对每毫米”（lp/mm）。

3.5PL空间分辨率测试板PLspatialresolutiontestchart

为测试PL成像系统的特性而规定的测试图配置。

4概述

光致发光缺陷检测仪常用于太阳电池生产企业和光伏系统检测机构。该类设备的基本

原理是通过特定波长的光源照射测试样品，样品受到光激发后，因内部缺陷类型和缺陷数

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量发出不同强度的光，使用相机进行捕捉，经过计算机处理得到光致发光图像，最终根据

图像判定样品内部缺陷类型及数量。

光致发光缺陷检测仪主要由光源、相机、样品台及图像处理系统构成，其常见的结构

示意图如图1所示。

图1光致发光缺陷检测仪结构示意图

5计量特性

5.1PL空间分辨率

光致发光缺陷检测仪的PL空间分辨率测量范围为（0.25~5.00）lp/mm。

5.2光源不稳定度(仅适用于采用面光源的设备)

光源不稳定度一般优于5%。

5.3测试面辐射照度不均匀度(仅适用于采用面光源的设备)

测试面辐射照度不均匀度一般优于5%。

注：以上指标不适用于合格性判别，仅供参考。

6校准条件

6.1环境条件

环境温度：(23±5)℃,相对湿度：不大于80%RH，测试现场周围无强磁场、电场干

扰，无影响测试的杂散光。

6.2测量标准及其他设备

6.2.1PL空间分辨率测试板

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PL空间分辨率测试板用于附着在太阳电池或硅片上，在PL缺陷检测仪拍摄下可形成一系列具有相同方向及宽度的黑白相间条纹（遮光条纹和透光条纹）检测图案。PL空间分辨率测试板用不透光材料制作，厚度不超过0.1mm。其中刻有6条镂空矩形，矩形长度不

少于5mm，矩形之间等距排列，距离与矩形宽度相同。

图2PL空间分辨率测试板示意图

6.2.2WPVS参考太阳电池

太阳电池部分尺寸为2cm×2cm，稳定光源照射下不稳定度优于0.1%。

7校准项目和校准方法

7.1校准项目

测试仪的校准项目如表1所示。

表1校准项目

序号

校准项目

计量特性条款号

校准方法条款号

1

PL空间分辨率

5.1

7.2.2

2

光源不稳定度

5.2

7.2.3

3

测试面辐射照度不均匀度

5.3

7.2.4

7.2校准方法

7.2.1校准前检查

采用目测法检查下述内容：PL缺陷检测仪的标识应完整、清晰、准确；PL缺陷检测仪成像镜头整体应清洁，无裂痕、发暗、霉斑、脱胶、开胶、脱膜等瑕疵，镜片表面不可有

气泡、条纹、沙眼、斑点、污迹、尘埃、灰雾状及其他明显瑕疵，镀膜无明显的擦伤现象。

校准环境应满足6.1要求，并参考用户默认环境，包括环境光源、显示器设置、目视

距离等。

7.2.2PL空间分辨率

选择一片太阳电池片或硅片作为辅助样品，该样品应无明显影响校准的缺陷，建议使

用单晶太阳电池片/硅片。将PL空间分辨率测试板按照线对水平或垂直方向粘贴在太阳电池

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片或硅片表面，粘贴位置为成像区域的四角及中心（粘贴位置示意图如图3所示，可以同时粘贴并进行校准，也可以分别对各个测试位置单独粘贴并校准），5个线对区域最小外接矩形的面积应不小于测量面积的80%，粘贴位置应避开太阳电池片或硅片的缺陷位置。按照PL