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电子功能模件边界扫描测试技术研究的中期报告

1.研究背景

随着电子产品的不断发展，电子功能模块在各种电子设备中应用越来越广泛。然而，电子功能模块中存在很多潜在问题，如接口失效、信号缺陷等，这些问题对电子产品的使用和品质都会造成很大的影响和损失。因此，需要对电子功能模块进行测试，以保证其可靠性和稳定性。而边界扫描测试技术是一种有效的电子功能模块测试方法。

2.研究目的

本研究旨在研究边界扫描测试技术在电子功能模块测试中的应用，探索其测试方法和流程，并通过实验验证其测试效果和可靠性，为电子产品的品质保障提供一定的参考依据。

3.研究内容

（1）边界扫描测试技术原理和基本原理的研究。

（2）电子功能模块测试方法、测试流程和测试标准的研究。

（3）边界扫描测试技术在电子功能模块测试中的应用实验设计和实验结果分析。

4.研究方案

本研究拟采用实验研究法，通过实验验证边界扫描测试技术在电子功能模块测试中的应用效果和可靠性。

（1）实验对象

选取几种常用的电子功能模块进行测试。

（2）实验内容

先对电子功能模块进行正常数据读取和写入测试，然后通过边界扫描测试技术测试电子功能模块在边界条件下的表现。

（3）实验流程

①设置测试场景和测试用例。

②对电子功能模块进行正常数据读取和写入测试。

③对电子功能模块进行边界扫描测试。

④分析测试结果，对测试数据进行处理，并得出结论。

（4）实验设备

需要用到边界扫描测试仪、数字万用表等仪器设备。

5.研究期望

通过本研究，能够进一步研究边界扫描测试技术在电子功能模块测试中的应用，为电子产品的品质保障提供一定的参考依据。同时，能够挖掘边界扫描测试技术的潜力和局限性，为进一步的研究提供借鉴和启示。