《SPC统计过程控制》培训考试试题.pdfVIP

《SPC统计过程控制》培训考试试题

一、单选题（每题5分，共45分）

1、SPC手册的最新版本是？

A、2008年第二版

B、2006年第四版

C、2010年第二版(正确答案)

D、2010年第四版

答案解析：APQP手册最新是2008年第二版；PPAP手册最新是2006年第四版；

FMEA手册最新是2019年第一版；SPC手册最新是2010年第二版；MSA手册最

新是2010年第四版；

2、SPC活动的各项，哪些结果需要作为PPAP文件提交顾客：

A、初始能力计划

B、初始能力研究结果(正确答案)

C、量产控制图

D、SPC作业指导书

答案解析：PPAP手册中要求初始能力研究结果提交给客户

3、因MES数据采集测量数据容易，我们计划使用计算机来制作量产的计量型控

制图，子组定为20件，那么应选取哪个控制图来制作？

A、均值极差控制图

B、均值标准差控制图(正确答案)

C、单值-移动极差控制图

D、中值-极差控制图

答案解析：参见控制图选用流程或minitab协助

4、量产控制图使用过程中，我们使用同样的抽样计划（容量/频次），当有特殊原

因导致变化时，八项判异准则中最晚报警的判异准则是：

A、判异准则二

B、判异准则四

C、判异准则七(正确答案)

D、判异准则八

答案解析：参见八条判异准则，并理解“链长”的概念。

5、初始能力研究时，因破坏性检测样本较少（如焊接熔深），我们只获得了30个

数据计算过程能力指数。此事Minitab报告中显示的控制图是：

A、均值极差控制图

B、均值标准差控制图

C、单值-移动极差控制图(正确答案)

D、中值-极差控制图

答案解析：30个数据，要确保至少25个子组，则只能做单值-移动极差控制图。

6、初始能力研究时，计划取样125个数据，但实际生产了100件时发生设备故

障，维修后生产了后续25件。那么我们利用这些数据时计算过程能力时，可以:

A、按5*25组数据利用全部数据计算CPK

B、按4*25组利用前面100个数据计算CPK(正确答案)

C、按5*25组数据利用控制图判稳后，计算CPK

C、第B项和第C项都用上，看CPK是否合格再决定。

答案解析：初始能力研究要求连续取样，这样做是为了获取不受干扰（即无异常

原因）的数据。C项看似合理，但实际可能会导致CPK计算结果偏低。（参见第

二类错误的解释：控制图受控但实际有异常原因）

7、计量型控制图中，子组容量的不同，其计算的CPK结果是：

A、相同的

B、不同的(正确答案)

C、组内和组间变差一致是相同的

答案解析：C项是迷惑项,毫无依据。因常数d2/c4是不同，不可能一样，会有差

异。

8、只使用第一条判异准则时，双边公差的均值-标准差控制图中的“均值图”有几条

线：

A、6条(正确答案)

B、7条

C、8条

D、9条

答案解析：均值图共计6条：中心线（均值）、数据、上下规范限、上下控制限

9、使用了额外的判异准则（需要利用“标准差”作为辅助判断），双边公差的均值-

极差的控制图中，其均值图中含有几条线：

A、8条

B、9条

C、10条(正确答案)

D、11条

答案解析：多了4条线：上下1标准差，上下2标准差，

二、多选题（每题5分，共35分）

1、对“SPC技术使用的前提”的正确说法是：

A、有统计学规律的(正确答案)

B、特性被定义了(正确答案)

C、有历史的相关数据(正确答案)

D、必须符合正态分布

答案解析：参加培训教材“关于统计过程控制”。正态分布只是统计分布的一种，非

正态分布可以转化未正态分布，不是SPC技术使用的前提。

2、SPC中，“过程不受控”是指：

A、不是统计受控(正确答案)

B、可能有特殊变差影响(正确答案)

C、正态概率检验不通过(正确答案)

D、无人或设备去控制

答案解析：受控即稳定，稳定即正态（Normal），即无特殊变差。

3、控制限需要在什么时候重新计算？

A、产品设计变更(正确答案)

B、制造过程设计变更(正确答案)

C、供应商材料/零件变更可能的影响(正确答案)

D、制程质量改善之后(正确答案)

答案解析：只要过程变更了，就需要重新计算控制限。质量改善也可引起过程变

更。

4、用哪些图形或方法可以辅助判断数据是统