半导体封装用带预制焊环盖板标准立项报告.docxVIP

半导体封装用带预制焊环盖板标准立项报告.docx

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多

半导体封装用带预制焊环盖板标准立项报告

EnglishTitle

ProjectReportonStandardizationofPrefabricatedSolderRingLidsforSemiconductorPackaging

摘要

随着我国半导体产业的快速发展,气密性封装技术在集成电路、微波器件、MEMS器件及系统级封装中的应用日益广泛。带预制焊环的盖板作为关键封装部件,其质量一致性、可靠性和适配性对封装性能具有重要影响。目前国内尚未建立相关行业或国家标准,导致产品设计、生产与检验缺乏统一规范,制约了技术交流和产业协同发展。本报告旨在阐述制定《半导体封装用带预制焊环盖板》标准的目的意义、适用范围及主要技术内容。通过系统分析当前技术现状与产业需求,提出涵盖材料选择、尺寸公差、工艺流程、检验方法和质量保证等全链条技术规范。该标准的制定将推动产品技术要求的统一与协调,支持国产化替代与军民融合发展,提升我国半导体封装产业的国际竞争力。

关键词

半导体封装;预制焊环;盖板标准;气密性封装;BAu80Sn280;材料规范;质量保证

SemiconductorPackaging;PrefabricatedSolderRing;LidStandard;HermeticSealing;BAu80Sn280;MaterialSpecification;QualityAssurance

正文

一、目的意义

当前国内半导体封装行业中,带预制焊环的盖板(包括盖板与帽型结构)缺乏统一的行业标准与国家标准,导致在产品设计、生产制造、质量检验和技术交流等方面存在显著差异。本项目旨在通过制定科学、规范的技术标准,解决各类集成电路、半导体器件、微波器件、MEMS器件、模块及系统封装中所采用带预制焊环盖板的选用、设计、生产与检验问题。标准内容强调代表性、适用性、先进性与兼容性,旨在确保盖板产品能够正常、便捷地应用于高端封装场景,提升封装可靠性和一致性。

本标准的制定具有重要行业意义和社会价值。一方面,可推动国内带预制焊环盖板技术要求的统一与协调,填补产品标准空白;另一方面,通过兼容国际主流厂商的技术规范,有助于促进国产电子器件的市场化与国际化,支持军民融合战略的深入实施。此外,该标准还将为产品系列化、批量化生产提供技术依据,进一步完善我国电子器件封装标准体系。

二、范围与主要技术内容

本标准规定了半导体封装用带预制焊环盖板在生产过程控制、承制方筛选、鉴定与认定、周期性检验等方面的质量保证要求,适用于带BAu80Sn280焊料环的平板型、帽型及异形盖板的设计、生产、试验与验收。

本标准为盖板产品的选用、设计、生产、检验及技术交流提供了全面规范。典型应用包括以BAu80Sn280为代表的焊料系统,适配于定膨胀封接铁镍钴合金、无磁定膨胀瓷封镍基合金、定膨胀封接铁镍铬和铁镍合金等金属盖板。帽盖材料涵盖可伐合金、钨铜、钼铜等金属材料,氧化铝等陶瓷材料,以及蓝宝石、锗单晶、光学玻璃等特殊功能材料。焊料环类型除Au80Sn20、SAC305外,还包括点焊或熔覆成型的结构。

主要技术内容包括:

1.焊环材料的化学成分、物理性能及规格尺寸要求;

2.帽盖材料的机械性能、热膨胀系数及外形尺寸与几何公差;

3.外观质量要求,如表面粗糙度、镀层完整性及缺陷容许范围;

4.检验项目与方法,包括金相分析、剪切强度测试、气密性检测等;

5.抽样方案与合格判据,明确批量验收的质量控制流程。

三、介绍修订单位:中国电子技术标准化研究院

中国电子技术标准化研究院(CESI)作为本标准的主要起草单位,是工业和信息化部直属的国家级标准化研究与应用机构,长期致力于电子信息技术领域的标准制定、试验认证和产业推广工作。该院在半导体封装、微电子制造与先进材料领域具有深厚的研究基础和丰富的标准制定经验,曾主导多项集成电路相关国家标准的编制与修订工作。在此次标准立项中,CESI联合了半导体封装企业、材料供应商和科研院所,共同确保标准内容的科学性、实用性和前瞻性,为推动行业技术升级和产品质量提升提供权威支撑。

四、结论与展望

《半导体封装用带预制焊环盖板》标准的制定将有效解决当前国内该产品领域标准缺失的问题,统一技术要求和质量评价体系,提升产品一致性与可靠性。该标准不仅有助于推动封装盖板的国产化进程,支持军民融合需求,还将增强我国半导体封装部件在国际市场的竞争力。

未来,随着先进封装技术向多芯片集成、异质集成和三维封装方向发展,盖板结构及焊料技术也将持续演进。建议下一步开展高温焊料、复合结构盖板以及面向射频、光电器件的专用标准研究,不断完善标准体系,为我国半导体产业的高质量发展提供坚实支撑。

参考文献

[1]GB/T14896《电子器件封装术语

您可能关注的文档

文档评论(0)

std365 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档