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ICS01.040.01
C65
T/COS
团体标准
T/COS029-2025
电子封装用高硅铝合金化学分析方法
痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法
Methodsforchemicalanalysisofhighsiliconaluminumalloyfor
electronicpackagingDeterminationoftraceimpurityelements
contents—Dlowdischargemassspectrometry
2025-10-01发布2025-10-01实施
中国兵工学会发布
T/COS029-2025
目录
前言1
1范围1
2规范性引用文件2
3术语和定义2
3.12
背景空白样品2
3.22
质量校正标准样品2
3.32
仪器检测器校正标准样品2
3.42
ICE2
3.52
半定量分析法2
4原理2
5试剂和材料3
5.1无水乙醇（ρ约0.789g/mL），优级纯。3
5.2盐酸（ρ约1.19g/mL），优级纯。3
5.3硝酸（ρ约1.42g/mL），优级纯。3
5.4氢氟酸（ρ约1.19g/mL），优级纯。3
5.5王水（1+3）3
5.6盐酸（1+1）3
5.7氩气3
5.8高硅铝合金标准物质3
6仪器设备3
6.1辉光放电质谱仪（GDMS）3
6.2制样加工设备4
7样品4
7.1试样具有均匀性和代表性4
7.2常规棒状或片状金属样品4
8试验步骤5
8.1仪器准备工作5
8.2测定5
8.3相对灵敏度因子的测定5
8.4样品测量6
9试验数据处理6
10精密度6
11检测报告
7
I
T/COS029-2025
前言
本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规
则》的规定起草。
请注意，本文件部分内容可能包含专利信息，但发布机构不承担识别或确认专利有效性
的责任。
本标准归口单位：中国兵器工业集团第五二研究所。
本标准负责起草单位：中国兵器工业集团第五二研究所，中国兵器工业集团第五三研究
所，中国电子科技集团公司第二十九研究所。
本标准主要起草人：翟宇鑫、连危洁、杜喜望、韩震、崔崇亮、崔意娟、李爽、田兆永、
李颖、陈伟、马兰、韩振生、李惠雨、张毅飞、赵敏
本标准为第1版
T/COS029-2025
电子封装用高硅铝合金化学分析方法
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