采集接口的比较浅析.docxVIP

机电管理系统主要进行机器状态信息采集和机器状态管理。一般来说，在机电管理系统中，采集的信息有离散量、模拟量。系统通过这些采集量信号来对飞机、船舶、汽车等载具进行物联控制。离散量的应用场景主要为载具开关、阀门、传感器状态监测，模拟量主要是载具的电压、温度、气流监测和位置反馈。采集的方法不同，采集的精确度、可靠性、造价方面都有差异。

本文介绍了电阻采集、电压采集、28V/开、地/开采集四类接口，它们每一类都有两种采集方法。文章通过对这些电路的机理分析来比较不同采集方法的差异，并分析其优缺点。

1、工作原理

1.1?离散量采集原理

1.1.1?单通道离散量采集原理

离散量采集电路主要由滤波电路、电平转换电路、缓冲驱动电路、译码控制电路、自检电路等组成，滤波电路通过滤波电容滤除输入信号线上的毛刺。某机电系统地/开离散量输入接口采集原理如图1所示。

图1中，R1=2.7kΩ，R2=27kΩ，R3=10kΩ。正常工作时，如外部激励为“地”，则采集电压为0.7R3/（R2+R3）≈0.19V；如外部激励为“开”，则采集电压为15R3/（R1+R2+R3）≈3.78V；输入大于2V则采集结果为“1”，输入小于0.8V则采集结果为“0”。正常工作情况下，开关位置如图1所示。图中的+5V在做自测试时使用，增加自测试电路是为了能快速发现故障并定位，提高产品的可靠性。

测试高激励时，则将K1拨至GND，K2拨至+5V，此时，采集端的电压为5（R1+R2）/（R1+R2+R3）≈3.74V，所有地/开输入采集结果应全部为“1”，软件进行判读，如读到某一位为0，则说明该通道故障；测试低激励时，K1保持在GND位置，将K2拨回至GND，此时采集端的电压应为0，软件进行判读，如读到某一位为1，则说明该通道故障。

自测试完将K1恢复至+15V，K2恢复至GND的位置，如图1所示。

对于28V输入，需在18.5～31.5V之间检测为逻辑1，输入大于2V则采集结果为“1”，输入小于0.8V则采集结果为“0”。正常工作时，自测试信号为三态。自测试时，可在自测试信号施加“高激励”或“低激励”，再通过软件判读，若某一路读出信号与施加激励信号不一致，则说明该通道故障。

28V输入采集公式如下，根据公式得知在18.5～31.5V之间时采集电压均大于2V，如图2所示。

U＝28R3/（R1+R2+R3）=3.71V

U=18.5R3/（R1+R2+R3）=2.45V

U=31.5R3/（R1+R2+R3）=4.17V

1.1.2?双余度离散量采集原理

冗余通道的离散量电路在满足了电路基本需求的同时，还保证了电路的可靠性[1]。如图3所示，该电路通过光耦将外部接口电路与内部电路隔离，从而提高了电路的安全性和防护性。28V激励源除了在采集时使用，还在自测试时使用。外部离散量输入为地时，光耦不导通，对应采集的数据为“1”；外部离散量输入为开路时，光耦导通，对应采集的数据为“0”。二极管V1用于防止28V激励源对外部输入信号造成影响，二极管V2和V3用于防止自测试时光耦输入端之间互相影响。选择的光耦最大导通电流不能超过0.5mA，导通时压降为1.4V。稳压管的压降为3.9V，电阻为10kΩ。当电压为18～32V，导通电流为0.635～1.335mA时，光耦导通正常；当外部输入信号小于9.6V时，光耦不导通。

做BIT时，分为两种状态。将上边的开关打开时，给输入电路加激励28V，采集到数据为“0”；将下边的开关打开时，给输入电路加激励0，采集到数据为“1”。28V电源激励或接地的激励不能同时接通，在BIT测试状态，采集的数据只由BIT所加的激励决定，如图3所示。

图4所示28V/开离散量采集原理和地/开采集类似，只是情况略有不同。当外部离散量输入为28V时，光耦导通，对应采集的数据为“0”；外部离散量输入为开路时，光耦不导通，对应采集的数据为“1”。在28V/开时，稳压管选择为6.2V，它的最低导通电压为0.5×10+6.2+1.4+0.7=13.3V，当电压高偏为32V时，（32-6.2-1.4-0.7）/10=2.37mA，小于限流的5mA，光耦正常导通。做BIT时，自检原理同上。

1.2?模拟量采集原理

1.2.1?差分模拟量采集原理和单端模拟量采集原理

机电系统的模拟量采集，也用了双通道接口输入/输出的设计方法实现[3]。差分模拟量输入采集电路如图5所示。GIO模块设计一个继电器开关实现对外部模拟量的采集或BIT测试。当BIT的控制端为0时，K1接地，电路处于外部接口数据采集工作模式；当BIT的控制端为1时，K1接1V的电压参考，电路处于BIT工作模式；BIT的控制端受FPGA离散量输