CN114137481B 一种基于低频柱面源天线阵列的电磁散射测试系统及方法 (北京航空航天大学).docxVIP

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CN114137481B 一种基于低频柱面源天线阵列的电磁散射测试系统及方法 (北京航空航天大学).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN114137481B(45)授权公告日2025.07.04

(21)申请号202111096995.2

(22)申请日2021.09.18

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN114137481A

(43)申请公布日2022.03.04

(73)专利权人北京航空航天大学

地址100191北京市海淀区学院路37号

(72)发明人王正鹏苏瑞

(74)专利代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司11251

专利代理师安丽邓治平

(51)Int.CI.

GO1S7/03(2006.01)

G01S7/41(2006.01)

GO1S13/88(2006.01)

H01Q1/52(2006.01)

H01Q3/28(2006.01)

H01Q3/34(2006.01)

H01Q21/00(2006.01)

H01Q21/20(2006.01)

(56)对比文件

CN104133119A,2014.11.05

CN110988501A,2020.04.10

CN113054424A,2021.06.29

潘宇虎;李小秋;牛宝君;高铁;何丙发.目标低频RCS的紧缩场测试研究.现代雷达.2011,正文全文.

审查员尚正辉

权利要求书2页说明书5页附图3页

(54)发明名称

一种基于低频柱面源天线阵列的电磁散射测试系统及方法

(57)摘要

CN114137481B本发明涉及一种低频柱面源天线阵列的电磁散射测试系统及方法,该系统由一个发射天线阵列、一个接收天线阵列、近场测量雷达、一个天线转台及低散射支架组成,发射天线阵列和接收天线阵列均采用到线性阵列天线作为柱面源,且发射天线阵列和接收天线阵列的天线单元和阵

CN114137481B

CN114137481B权利要求书1/2页

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1.一种低频柱面源天线阵列的电磁散射测试系统,其特征在于:所述低频指工作频率在2GHz以下,0.1GHz以上的频段;

所述电磁散射测试系统采用两个线性阵列天线分别作为接收天线阵列和发射天线阵列,发射天线阵列产生柱面波,作为整个测试系统的柱面源;发射天线阵列与接收天线阵列之间加入扼流槽结构,抑制收发天线阵列之间的耦合;发射天线阵列和接收天线阵列长度为L,且均由N个天线单元组成,天线单元之间的距离为d;同时发射天线阵列以1~4个天线单元为一组通过功分器连接组成一个天线子阵列,每个天线子阵列连接至幅相调控网络,幅相调控网络再连接至近场测量雷达系统的发射端;接收天线阵列通过功分器连接到近场测量雷达系统的接收端;

所述发射天线阵列和接收天线阵列长度的L为测量静区大小的1.3倍以上,静区中心距离发射阵列天线距离大于等于1.5倍L;天线单元之间的距离d小于最高工作频率的1.3倍波长,天线单元距离的设计有助于降低高频时的收发天线阵列之间的耦合以及天线单元之间的耦合。

2.根据权利要求1所述低频柱面源天线阵列的电磁散射测试系统,其特征在于:所述扼流槽结构由吸波材料构成。

3.根据权利要求1所述低频柱面源天线阵列的电磁散射测试系统,其特征在于:所述发射天线阵列以1~4个天线单元通过功分器组成天线子阵列,天线子阵列连接到幅相调控网络;天线子阵列的引入用于减少幅度相位调控网络的通道数量,降低整个系统的成本和调试校准难度;通过电缆、功分器及幅相调控网络组成的阵列馈电网络调控发射天线阵列天线单元的幅度和相位,调整整个发射天线阵列的幅度和相位。

4.根据权利要求1所述低频柱面源天线阵列的电磁散射测试系统,其特征在于:所述发射天线阵列同时连接到适用不同频段的幅相调控网络,根据测量频段,通过开关选择合适的幅相调控网络。

5.根据权利要求1所述低频柱面源天线阵列的散射测试系统,其特征在于:所述天线单元采用双极化阻性加载超宽带天线,单个天线单元口面小于最低频率波长的1/8;天线单元的结构是在Vivaldi天线靠近顶部的PCB上蚀刻一个V形槽,在V形槽边缘加上电阻结构,从而改变电流分布,拓展带宽,采用两片上述Vivaldi天线十字垂直组合,成为线性阵列的天线单元。

6.一种采用权利要求1-5任意之一所述的低频柱面源天线阵列的散射测试系统的实现方法,其特

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