CN118687490B 涂层厚度检测方法、装置、计算机可读存储介质和系统 （宁德时代新能源科技股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN118687490B(45)授权公告日2025.01.10

(21)申请号202411171306.3

(22)申请日2024.08.26

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN118687490A

(43)申请公布日2024.09.24

(73)专利权人宁德时代新能源科技股份有限公

司

地址352100福建省宁德市蕉城区漳湾镇

新港路2号

(72)发明人黄云龙惠滔刘志文陈玺

(74)专利代理机构北京华进京联知识产权代理有限公司11606

专利代理师吴迪

(51)Int.CI.

G01B11/06(2006.01)

G01B11/02(2006.01)

(56)对比文件

CN116660202A,2023.08.29

WO2023187415A1,2023.10.05

审查员李婧

权利要求书2页说明书16页附图7页

(54)发明名称

涂层厚度检测方法、装置、计算机可读存储介质和系统

(57)摘要

CN118687490B本申请涉及一种涂层厚度检测方法、装置、计算机可读存储介质和系统。所述方法包括：获取时域光谱探头与极片涂层上对齐点之间的第一距离信息和所述时域光谱探头采集的所述对齐点处的涂层厚度信息；获取频域光谱探头阵列采集的多个相位差信息；根据所述第一距离信息、所述对齐点处的涂层厚度信息和多个所述相位差信息进行厚度检测，得到多个非对齐点处的

CN118687490B

获取时域光谱探头与极片涂层上对齐点之间的

第一距离信息和时域光谱探头采集的对齐点处

的涂层厚度信息

获取频域光谱探头阵列采集的多个相位差信息

根据第一距离信息、对齐点处的涂层厚度信息和多个相位差信息进行厚度检测，得到多个非

对齐点处的涂层厚度信息

-201

-202

-203

CN118687490B权利要求书1/2页

2

1.一种涂层厚度检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取时域光谱探头与极片涂层上对齐点之间的第一距离信息和所述时域光谱探头采集的所述对齐点处的涂层厚度信息；

获取频域光谱探头阵列采集的多个相位差信息；

根据所述第一距离信息、所述对齐点处的涂层厚度信息和多个所述相位差信息进行厚度检测，得到多个非对齐点处的涂层厚度信息；

所述相位差信息包括对齐点的相位差信息和非对齐点的相位差信息，所述根据所述第一距离信息、所述对齐点处的涂层厚度信息和多个所述相位差信息进行厚度检测，得到多个非对齐点处的涂层厚度信息，包括：

根据所述对齐点处的涂层厚度信息、所述第一距离信息和所述对齐点的相位差信息，确定所述频域光谱探头阵列的入射波在所述对齐点处的第一入射角信息；

针对每一所述非对齐点，根据所述第一入射角信息、所述非对齐点的相位差信息、所述对齐点处的涂层厚度信息和所述第一距离信息，对所述非对齐点进行厚度检测，得到厚度波动信息；

基于所述厚度波动信息和所述对齐点处的涂层厚度信息，确定所述非对齐点处的涂层厚度信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一入射角信息、所述非对齐点的相位差信息、所述对齐点处的涂层厚度信息和所述第一距离信息，对所述非对齐点进行厚度检测，得到厚度波动信息，包括：

根据所述非对齐点的相位差信息、光速和所述频域光谱探头阵列的入射波的频率，确定所述频域光谱探头阵列与所述非对齐点之间的第二距离信息；

根据所述第一距离信息、所述第二距离信息、所述第一入射角信息和所述对齐点处的涂层厚度信息，确定所述厚度波动信息。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述时域光谱探头采集的所述对齐点处的涂层厚度信息，包括：

获取所述时域光谱探头的入射波在所述对齐点的第二入射角信息；

获取所述时域光谱探头采集的两个反射波的时间差信息；

根据所述第二入射角信息、所述时间差信息和预先获取到的折射率，确定所述极片的对齐点的厚度信息。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取所述时域光谱探头采集的两个反射波的时间差信息，包括：

获取所述时域光谱探头采集到经所述对齐点表面反射的第一反射波和经极片涂层折射并反射的第二反射波；

分别提取所述第一反射波对应的第一波峰和所述第二反射波对应的第二波峰；

根据所述第一波峰和所述第二波峰，确定所述时间差信息。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，