CN119688593A 一种荧光检测系统及方法 （上海通微分析技术有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119688593A

(43)申请公布日2025.03.25

(21)申请号202510199006.4

(22)申请日2025.02.24

(71)申请人上海通微分析技术有限公司

地址201203上海市浦东新区自由贸易试

验区松涛路489号C01座

(72)发明人闫超陈斌张平姚凡张静汪静陈国华刘鹏飞帅明

(74)专利代理机构上海远同律师事务所31307

专利代理师张坚

(51)Int.Cl.

G01N21/01(2006.01)

G01N21/64(2006.01)

G01M11/02(2006.01)

权利要求书2页说明书7页附图26页

(54)发明名称

一种荧光检测系统及方法

(57)摘要

CN119688593A本发明公开了一种荧光检测系统及方法，通过氙灯发出荧光，经凹镜聚光后依次经第一反射镜、第一光栅、分束镜后，一分部至硅光电池检测器用以检测光源是否稳定，另一部分进入检测槽，照射槽内样品后射出，再经第二光栅后，至光电倍增管，以获得荧光检测信号来检测物质。通过在线实时监测光源的稳定性，能够及时对光源不稳定因素进行排，保证荧光检测的准确性。通过一体式的检测槽，可方便定位及更换，并且能

CN119688593A

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