CN119782074A 存储器的测试方法、装置、存储介质及电子装置 （浙江华忆芯科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119782074A

(43)申请公布日2025.04.08

(21)申请号202510290296.3

(22)申请日2025.03.12

(71)申请人浙江华忆芯科技有限公司

地址310051浙江省杭州市长河街道越达

巷126号3号楼12层1202室

(72)发明人王传奇周灵黄琦苗淼薛睿卓

(74)专利代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司11240

专利代理师赵静

(51)Int.Cl.

G06F11/22(2006.01)

权利要求书2页说明书7页附图6页

(54)发明名称

存储器的测试方法、装置、存储介质及电子

装置

(57)摘要

CN119782074A本发明实施例提供了一种存储器的测试方法、装置、存储介质、电子装置及程序产品，其中，该方法包括：确定待测试的目标存储器正常运行时允许存在的坏块的最大坏块数，其中，所述坏块为所述目标存储器中存在的状态异常的存储块；为所述目标存储器配置第一数量的坏块，其中，所述第一数量小于所述最大坏块数；对所述目标存储器执行开卡操作，并在所述目标存储器开卡成功的情况下，获取所述目标存储器中的目标坏块信息；确定所述目标坏块信息与第一坏块信息的对比结果，其中，所述第一坏块信息包括所述第一数量的坏块的信息；基于所述对