AI硬科技和应用系列深度(二):以史为鉴,AI催生测试机国产化良机.docxVIP

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  • 2026-09-29 发布于河北
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AI硬科技和应用系列深度(二):以史为鉴,AI催生测试机国产化良机.docx

电子|行业深度

电子|行业深度

2026/08/21

AI硬科技和应用系列深度(二)——

以史为鉴,AI催生测试机国产化良机

P2

守正出奇宁静致远

报告摘要

测试环节贯穿全生命周期,顺产业趋势头部厂商形成强大壁垒。测试环节贯穿芯片制造全生命周期,

是保障芯片良率与可靠性的关键,是芯片良率的“守门人。2025年,全球ATE(自动测试设备)规模超100亿美金,2025-2027维持双位数复合增长。头部公司分别抓住计算机控制IC时代、区域半导体产业崛起、SoC测试产业兴起等产业浪潮,形成了自身强大壁垒。

四大优势+两大差异,塑造双寡头市场格局。极高硬件技术壁垒+软件生态锁定+与头部芯片厂联

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