空间光通信APT技术中CCD多次采样的分析与研究.pdfVIP

维普资讯 yygx205901@sina．c。m 应用光学 J．AppliedOptics N。V．2004，25(6)：9—11 。9 ‘ 文章编号 ：1002—2082(2004)06—0009—03 空间光通信APT技术中CCD 多次采样的分析与研究 张文涛 ，朱保华 (1．桂林电子工业学院 电子工程系，广西 桂林 541004； 2．桂林电子工业学院 信息材料科学与工程系 ，广西 桂林 541004) 摘 要 ： 利用ccD器件进行光学检测 ，普遍采用二值化的脉冲计数法 ，即每个脉冲都代表了一个像元间距，所以 CCD的检测分辨率只能达到像元 间距的大小。虽然在光学系统中可以采用增加系统放大倍数 的方法来提高CCD 的检测分辨率 ，但是由于成像系统的像差、球差以及衍射效应的存在，光学系统最多只能放大几十倍，NII~CCD的 检测分辨率只能达到微米量级。为进一步提高CCD的检测分辨率 ，本文提出了一种全新的方法，即多次采样处理 ， 以此将CCD的分辨率提高到亚像元的精度。经过分析论证 以及软件的仿真模拟，证实了该方法的可行性。 关键词 ： 空间光通信 ；APT；多次采样 中图分类号 ：TN386．5—34 文献标识码 ：B TheAnalysisandStudyofM ultiple—samplingofCCD in theAPT TechnologyofOpticalCommunication ZHANG W en—tao ．ZHU Bao—hua (1．Deptofelectronicengineering，GLIET ，Guilin 541004，China； informationmaterialscienceandengineering，GLIET，Guilin 541004，China) Abstract： Itist1lemet11(】d ofpulsecountthatcanbeusedtOcarryouttheopticaldetection withCCD ，anditissaidthat each pulse denotes ipixe1．S0 the detective resolution only have one pixe1．A lthough the detecting resolution can be enhancedby increasing theamplification ratio，thedetectiveresolutiononlyachievemicron level，sincetheexistenceofthe aberration，sphericalaberration and diffractioneffect．InordertO improveCCD’Sdetective resolution ulteriorly。a new methodofmultiple—samplingisbroughtfor ardin 。hispaper．W iththemethod，thedetectiveresolution canberaised tO thelevelofsub—pixe1． Keywords：spaceopticalcommunication；APT ；multiple—sampling 1 CCD 多次采样理论分析 度 。在探测器面积一定的情况下 ，要想提高CCD的 在光通信APT子系统 中，利用 CCD对 目标进 位置分辨率 ，只能依靠增加像元的个数S，减小每个 行捕获和跟踪的过程 中，经过一段 固定的观察时间 像元的线度P，但是这样做在技术上实现起来是非 t之后，光电传感器件CCD将