低频噪声测量方法的研究.pdfVIP

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第28卷第8期增刊 仪器仪表学报 VoL28No.8 2007年8月 Chinese ofScientificInstrument Aug.2007 Journal 低频噪声测量方法的研究 陈晓娟,赵睿吴勇峰 (东北电力大学信系工程学院 吉林132012) 摘要:本文应用了弗里斯公式设计了低噪声测量放大系统,用FIR滤波来调节中心频率,经计算准确地绘出了nV量级的 低频噪声功率谱密度曲线;通过仿真验证了低频噪声谱的非均匀性,同基于锁相放大器法(LIA)的噪声测量仪相比,此方法无 论从所得数据的准确性还是性价比上都是优越的。 关键词:弗里斯公式;FIR滤波;噪声谱 oflow noisemeasurementmethod Disquisitionfrequency Chen uan,ZhaoRui,WuYongfeng Xiaoj Li (collegeofinformationengineering,NortheastDianUniversity,Jilinl32012,China) a ofmeasurementand whichbasesonFrisstheorem.A Abstract:Thisdisquisitiondesignssystem amplification FIRfiltermakesit toalter receivetheexactnoise possible centro-frequencyconveniently.We spectrumaccording thenoise emulatorsthehetero oflow noise tOcomputingvoltage.The testify equality frequencyspectrum.The thanLIAon exactdataand the between and methodisbetter price. obtaining gainingproportioncapability words:friss filter;noise Key theorem;FIR spectrum 2设计低噪声测量放大系统 kHz以下 2.1弗里斯公式 低频噪声测量技术是指对频率低于100 电压噪声(或电流噪声)的测量方法及装置。由于人们 很难找到一种像高频噪声测量中常用的标准噪声源来 KpA3分别为各级发大器本身的噪声系数和额定功 对低频噪声进行比较法测量,因此,目前低频噪声测量 率,则多个放大器级联后的总噪声系数计算公式为: 只能借助诸如有效值表、谱分析仪等一些测量仪器进 行直接测量。电路中由有源器件的内在缺陷D-s](晶 格的位错、深能级杂质缺陷等)引起的过激1/f噪声、驴 r噪声和爆裂噪声均属于低频噪声,并且噪声电压、电 F1 F2 F3 流等参数的量级都非常小,噪声电压一般为nV量级, 显然直接用有效值表对其进行测量是不能实现的。而 直接用放大器进行放大,由于其自身的噪声将会对被 虹 Kpal KpA2

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