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V01．29
第29卷增刊2 北京理工大学学报 Suppl．2
of Instituteof
2009年8月TransactionsTechnology Aug．2009
Beijing
通用串行总线静电放电防护研究
’
徐晓英 戴艳玲， 陶 志刚
(武汉理工大学理学院，湖北，武汉430070)
摘 要：为解决USB接口易受到静电放电的损害．选用USB2．0为实验对象，在保证信号传输完整性前提下，选取
了SR05贴片封装的集成ESD保护器件，从电路保护器件参数选择、试验分析、PCB布局等方面，研究了USB在静
电放电电磁脉冲作用下的效应，结合通用串行总线(USB)“眼图”测试，进行了USB抗ESD干扰的具体电路设计，
并在此基础上分析了保护器件寄生电感对防护有效性的影响．
关键词：静电放电；通用串行总线；保护电路
中图分类号：O441 文献标识码：A 文章编号：1001-0645(2009)增刊2-0046—03
SerialBus
ElectrostaticProtectionofUniversal
Discharge
XU Zhi—gang
Xiao-ying，DAIYan-ling，TAO
(SchoolofSciences，Wuhanof 430070，China)
UniversityTechnology，Wuhan，Hubei
ordertoresolve toUSBinterfaceelectrostatic 2．0is
Abstract：In damages by discharge，USB
selectedasthe andSR05 latterhaslow TVSdiode
experimental packaged。the capacitance
object
whenchosenasthe ESD thesakeof
array integratedprotectedcomponents，forsignalintegrity
results the ofUSBunderelectrostatic
showedeffects
(SI)．Study
isdiscussedfromthe of andPCB
analysis layout．
pulse aspectparameterselection，experimental
CombinedwithUSB testand inductanceofthe
eyediagram consideringparasitic protected
contrib
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