采用加速试验评估晶体管长期贮存下参数变化的研究论文.pdfVIP

采用加速试验评估晶体管长期贮存下参数变化的研究 张小玲谢雪松 吕长志 李志国 a匕京工业大学电子信息与控制工程学院，100124) 摘 要本文设计了一套以温度和湿度为加速应力的加速寿命试验方案，并对型号为3DKl0的NPN型的 外壳封漆和未封漆两种形式双极晶体管在温度125℃和湿度95％的条件下进行了115小时初步摸索的加速寿 命试验，，所有器件的参数加速后没有发生明显的变化，同时发现器件外壳的封漆有较强的吸湿性，对器件在 高湿条件下的可靠性有较大影响。 关键词 加速试验双极晶体管高温高湿， 1 引言 在贮存状态下，电子器件往往长期不加电或仅仅短时间测试通电。电应力对失效率的影响不在是主要 因素。而温度、湿度、盐雾气氛等环境应力影响则起主要作用【¨。电子元器件贮存评价试验有现场贮存或 天然库房贮存和加速应力评价两种，天然库房贮存试验即器件置放于实际的环境条件，实地长期贮存；另 一种则是模拟贮存的自然条件，施加极限应力，严酷程度高，在短时间内暴露出器件的缺陷。前者是评价 元器件贮存寿命最直接的方法，其寿命数据最真实可靠。但试验周期长、费用高，已不适合装备系统研制 周期短、应用啁期短等特点。采用加大应力水平、加快电子元器件尤其是微电路失效的加速寿命试验方 法，在较短的时间周期内，掌握它们在正常贮存条件下的性能变化规律、评价贮存可靠性是一种行之有效 的方法。加速寿命试验方法已经大量应用于元器件级的工作寿命评价。但在贮存可靠性方面应用较少圆。 本文采用温度和湿度为加速应力对器件进行加速寿命试验。 2加速平台搭建 model) 2．1加速模型——温一湿度加速模型(Hatlberg-Peck 电子元器件在长期贮存中，受到的环境因素中除了温度，还有湿度的影响。湿度对器件的管壳和非密 封贮存的器件内部都会产生腐蚀效应。当这两个应力共同作用时可以使用下面这个模型进行推算翻： 忙A(％RH)娜(旨) (1) 其中，t为产品的寿命，RH为相对湿度，A，n为实验常数。上式比阿仑尼斯模型多了一项相对湿度 的n次方。当相对湿度恒定时，可以采用阿仑尼斯模型中相同的方法进行寿命的估算嘲。 2．2加速样品及条件 本文使用的实验器件为河北省石家庄市无线电二厂生产的功率半导体晶体管，型号为3DKl0E，有外 黑色管壳组(封漆)：新l，新2，新3，新4，新5，新6。 164 参数作为检测器件失效的检测项目。在进行常规条件下，对上述参数进行测试，全部在正常范围内。 本文使用温度和湿度为加速应力对器件进行加速寿命试验，所以为了制造高温高湿的环境，购买了一 台美的电压力锅，经过线路改造，将压力锅的定时设备短路，由于压力锅的限温模块和加温模块正常工 作，使压力锅能够长时间保持恒定高温；在压力锅内采用支架和托盘制作试验平台，将试验晶体管放于平 台上，保证其加温时在水面以上，避免水中杂质污染器件造成的失效模式转变。 经过红外线温度测试仪测试，压力锅表面温度为120℃，除去温度损失5％，压力锅内部温度应该为 126℃左右；经过湿度测试仪测试，排气口湿度为90％，除去湿度损失5％，压力锅内部湿度应该为95％ 左右，完全符合实验要求，可以使器件长时间处于高温高湿环境。设定在加速实验过程中，间隔23小时 测量器件参数一次，多次测量后将数据汇总，根据所得数据对器件的参数进行分析，查找器件参数变化规 律。 3加速实验数据的测试与分析 3．1晶体管基极一集电极正向Ⅳ特性BCf的变化规律 BCf的变化规律如图l所示，光亮管壳组器件的正向电流基本一致，黑色管壳组器件的正向电流也基 本一致，所以在BCf参数中着重观察两种管壳间电流差异的对比，光亮管壳组器件的正向电流明显高于黑 色管壳组器件，两组器件的正向电流都有少许的上升趋势，但均属于正常的电流范围内。 o ∞ ∞ ∞ ∞ I∞ 120 O ∞ 100 ∞ ∞40 ∞ 加建试■时I¨时 加建试冀时闻，小时