X射线荧光光谱分析在我国铁矿石分析中的应用.pdfVIP

206—_2l1．2012 地 质 学 刊 第36卷 第2期 doi：10．3969／j．issn．1674-3636．2012．02．206 X射线荧光光谱分析在我国铁矿石分析中的应用 陈美芳 。黄光明，江 冶，侯鹏飞 (江苏省地质调查研究院，江苏 南京 210018) 摘要：系统介绍了20世纪90年代以来X射线荧光光谱分析(XRF)在我国铁矿石分析中的应用，包括粉末压片法 和熔片法两种最基本的分析手段，主要内容集中在熔片一波长色散 X射线荧光光谱分析法在我国铁矿石分析方面 的测试技术，重点介绍了熔剂的类型、配比、熔片方法、熔融温度以及钴内标的使用，同时介绍 了基体效应校正、谱 线重叠校正等方面的内容。 关键词：x射线荧光光谱分析 ；粉末压片法；熔片法；铁矿石；钴内标 中图分类号：P575．5；P618．31 文献标识码：A 文章编号 ：1674—3636(2012)02—0206—06 再用回归分析求出铁的经验 O．／系数作二次基体效 0 引 言 应校正。元素Pb对 Bi和As有谱线重叠干扰，可直 接采用铁帽模拟标样作基体，分别加入不同量的干 铁矿石是钢铁工业 的主要原料。随着我国钢铁 扰元素，测 出强度、求 出干扰系数。胥成 民等 工业 的迅猛发展，我国铁矿石的进 口量猛增。传统 (1998)用粉末压片法测定进 口铁矿石 中的主、次量 的铁矿石分析通常采用湿法分析，分析周期长，操作 元素，并进行了样品粒度与压片时间的影响试验 ，认 繁琐，成本也高。随着 x射线荧光光谱分析仪和检 为通过0．045mm(320目)的矿样在99％以上，粒度 测技术的发展，XRF以其快速、准确等优点已在铁 大小及粒度分布基本一致，加压时间超过 3min，Fe 矿石的检测中得到了广泛应用。笔者就20世纪90 的x射线荧光强度值已趋于稳定。与熔融法比较， 年代 以来，XRF在我国铁矿石分析 中的应用作 了较 熔片和压片的制样标准偏差相当一致，能满足化学 为系统的介绍 。 分析的精度要求 。Sn是钢铁成分中五大有害元素 之一，李伟枢等(1998)和常玉文(2003)用粉末压片 1 粉末压片法 XRF测定铁矿石 法测定铁矿石中的sn，以Rh靶的康普顿散射线强 度为内标，方法简便、快速、准确。 粉末压片法以操作简单、分析快速的优点在 杨红等(2003)研究了压片法分析铁矿石中As XRF分析中被广泛应用，有学者同样应用于铁矿石 含量的方法。Pb的L 线对As的K ，线的干扰比 分析。华佑南 (1990)采用人工配制标样粉末法测 较明显。若用 AsK ，线作为分析谱线，应考虑扣除 定铁帽样品中As、Sb和Bi。以天然基物加入标准， 即先通过半定量分析，选一个较典型的天然铁帽样 Pb的干扰。PbL。谱线较单纯，普通铁矿石中几乎 品，然后 以此为基体 ，按需要分别加入一定量的As、 不存在其他谱线对其的干扰，可用 PbL对 AsK ， sb、Bi等元素，配制成系列标准。采用峰侧背景校 线进行校正。AsK ，线也 比较单纯，附近没有干扰 正法 ，扫描后选定 As、Sb和 Pb、Fe为正偏角背景 峰，可直接作为测定的分析谱线 。但 AsK。