X射线衍射全谱拟合定量分析方法研究.pdfVIP

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2017-08-22 发布于安徽
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X射线衍射全谱拟合定量分析方法研究.pdf

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X射线衍射全谱拟合定量分析方法研究王晓叶郑斌冯志海 (航天材料及工艺研究所，先进功能复合材料技术重点实验室，北京100076) 文摘利用X射线衍射仪对不同配比的Si和TiO：样品进行分析，通过三种定量分析方法(峰高法、积分强度法、全谱结构拟合法)进行计算，并进行误差分析。结果表明：三种定量分析方法中，全谱结构拟合法最优，相对误差为±2％(n=3)，误差最小。X射线衍射全谱拟合法是一种精确，快速的定量方法。关键词X射线衍射，全谱拟合法，物相定量 Phase of RietveldRefinementofXRD QuantitiveAnalysisSi-Ti02by Patterns Bin Zhihai WangXiaoyeZheng Feng and OnAdvancedFunctional Research (ScienceTechnology Composites Laboratory，Aerospace InstituteofMaterials＆ProcessingTechnology，Beijing100076) Abstractdiffraction two X—ray and three method(XRD)includestasks：qualitativequantitative analysis．The ratios analyzedXRD，the datawereobtainedfromtherietveld of(Si+Ti02)aleby quantitativeanalysis analyses．ne resultsshowthatthe aleclosetotherealratio ofthe Rietveldmethordisreliableforthe compositions samples．The therelativestandarddeviation results demonstratethat quantitativephaseanalysis．and Was±2％(几=3)．ne X—ray diffraction withtherietveldrefinementmethodisan and method． powder combining accurate，convenient speed．up words diffraction，Rietiveld Key X—ray method，Quantitativeanalysis 0 引言的碳化物分析国家标准，建立了沉积岩中粘土矿物 X射线衍射定量分析方法可以分为两大类：一总量和常见非粘土矿物x射线衍射定量分析方法