电导法测量金属表面上薄液膜厚度研究.pdfVIP

中国工程热物理学会 多相流 学术会议论文 编号：086011 电导法测量金属表面上薄液膜 厚度的研究 李春国，王新军，程代京，孙弼 （西安交通大学叶轮机械研究所，西安 710049） (Tel Email:lanchsy@stu.xjtu.edu.cn) 摘要：在电导法测量金属表面上薄液膜厚度的试验基础上，结合电场数值分析方法研究了电导探头结 构参数对液膜厚度测量范围和精度的影响，并对电导探头附近区域的液膜电场进行了数值分析。结果 表明，绝缘环外径和金属探针直径较小时均有助于提高电导探头测量局部液膜厚度的能力，但同时也 引起了测量范围的减小。此外，测量金属表面上的薄液膜厚度适合采用嵌入式单电导探头。 关键词：电导法; 液膜厚度; 电场。 0 前言 在汽液两相流的研究中，测量固体表面上水膜厚度的方法主要有电导法、电容法、 辐射吸收法、光吸收方法以及直接的针接触测量法等。这几种方法除针接触法外都是间 接测量法，分别以液膜厚度与电阻、电容、对辐射量（光）的吸收量等不同的物理参数 [1] 的对应关系为基础，通过测量这些物理参数来确定液膜的厚度 。 电导法利用液膜的电阻来测量液膜厚度，是间接测量方法中最常用、最简便的方法 之一，具有较高的测量精度，并且使用嵌入式电导探头不会对流动的液膜产生影响，应 [2-4] 用比较广泛 。 本文将电导法应用于金属表面上（例如汽轮机静叶表面）薄液膜厚度的测量，在试 验基础上，采用 ANSYS 软件对电导探头附近区域液膜的电场进行了数值模拟，分析了 嵌入式电导探头结构参数对液膜厚度测量范围和精度的影响，以及电导探头测量局部液 膜厚度的能力与电导探头结构参数的关系。在应用电导法测量金属表面上薄液膜的厚度 时，本文的研究工作为电导探头的设计提供了指导。 1电导法测量原理 电导法测量液膜厚度的原理是：不同厚度的液膜导电性能不同，因此，通过测量探 头附近区域液膜的电阻而得到液膜的厚度。 1.1测量原理 作者简介：李春国（1977～），男，博士研究生；王新军（联系人），男，副教授。 *基金项目：国家高技术研究发展计划资助项目（2007AA05Z251 ） 电导探头安装在金属板上并与金属板表面绝对平整，以免对液膜流动产生影响。电 导探针为电阻率尽量小的金属导体，其直径根据被测量液膜厚度的范围进行选择。金属 探针上套有绝缘环，以保证金属探针与金属板之间是绝缘的。电导探头的结构如图 1(a) 所示。金属探针和金属板分别作为电路的两极，并使金属板和地相接，其测量电路原理 如图 1(b)所示。金属板表面上液膜的厚度为 h ，金属探针直径 d ，绝缘环外径 d ，平板 1 2 与探头截面的相比可认为是无限大。金属探针与金属板之间的电阻实际上是两极间所有 液膜的电阻，其大小决定于液膜厚度 h 、液膜电阻率、探头结构以及环境温度等。测量 时，电源提供电压 V 、频率f 的正弦电压，R 为定值电阻，液膜厚度 h 的变化引起液膜 t 0 电阻R 的变化，电路中的电流也相应改变，从而通过电阻R 两端的输出电压 V 反应出 x 0 0 液膜厚度的大小。 液膜